[發明專利]三維可編程存儲器制備方法在審
| 申請號: | 201910109123.1 | 申請日: | 2019-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN109887923A | 公開(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發明(設計)人: | 彭澤忠 | 申請(專利權)人: | 成都皮兆永存科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/11578 | 分類號: | H01L27/11578 |
| 代理公司: | 成都惠迪專利事務所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 劉勛 |
| 地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 深孔 中間介質層 導電介質層 連接導體 制備 可編程存儲器 填充導電介質 基礎結構體 深孔內壁 沉積 三維 層疊方向 層疊結構 導電連接 擊穿電壓 存儲器 次品率 擊穿 良率 施加 | ||
1.三維可編程存儲器制備方法,包括:
1)形成具有層疊結構的基礎結構體的步驟;
2)在基礎結構體上,沿層疊方向開設深孔的步驟;
3)在深孔內壁沉積中間介質層,并在內壁帶有中間介質層的深孔內填充導電介質的步驟;
其特征在于,所述步驟3)包括:
3.1)在深孔內壁沉積中間介質層;
3.2)在內壁帶有中間介質層的深孔內填充導電介質,形成內部導電介質層;
3.3)在選定的深孔內的內部導電介質層和選定的深孔外的連接導體之間施加擊穿電壓,以擊穿內部導電介質層和深孔外的連接導體之間的中間介質層,使內部導電介質層和深孔外的連接導體之間形成導電連接。
2.如權利要求1所述的三維可編程存儲器制備方法,其特征在于,所述中間介質層包括絕緣介質層。
3.如權利要求1所述的三維可編程存儲器制備方法,其特征在于,所述連接導體位于深孔底部。
4.如權利要求1所述的三維可編程存儲器制備方法,其特征在于,在步驟1)之后,還包括:在基礎結構體上形成指叉結構的步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于成都皮兆永存科技有限公司,未經成都皮兆永存科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910109123.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





