[發明專利]列噪聲檢測方法、裝置、介質及系統

有效

• 申請號: 201910103469.0
• 申請日: 2019-02-01
• 公開（公告）號: CN109829866B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 孫濱璇
• 申請（專利權）人: 安謀科技（中國）有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 肖華

本申請涉及一種列噪聲檢測方法，包括，接收來自CMOS圖像傳感器的圖像序列，該圖像序列中每一幀圖像包括N列像素，其中N為正整數；對于圖像，從N列像素中取M列，分別檢測該幀圖像中的M列中的每一列的水平頻率響應，以分別確定M列中的每一列是否存在列噪聲，并且，在不同圖像中檢測的像素列互不相同，其中M為正整數,且M＜N；以及將圖像中的測得M列像素中的每一列是否存在列噪聲的信息緩存到存儲器中。與現有技術相比，本申請通過減少在每一幀時間中檢測的像素列的數量，節省了用于緩存列噪聲信息的片上存儲空間。此外，本申請還涉及一種列噪聲檢測裝置、介質及系統。

技術領域

本申請涉及一種列噪聲檢測方法、裝置、介質及系統。

背景技術

CMOS圖像傳感器近年來已經廣泛應用于移動通信、多媒體娛樂、醫療、安防、航天等領域。目前CMOS圖像傳感器系統主流的處理結構是采用列共用處理電路，即每列像素共用一套信號處理電路。在這種結構中，由于相鄰列ADC(模擬數字轉換器)之間的差異，CMOS傳感器中會出現噪聲，稱為列固定模式噪聲(Column Fixed Pattern Noise，CFPN，以下簡稱“列噪聲”)，在圖像上表現為明暗不一的“豎線”，影響圖像品質。相對于隨機噪聲，列噪聲對于圖像質量的影響更大，因此有關列噪聲的問題一直是業界研究的重點。

發明內容

本申請的目的在于提供一種新的列噪聲檢測方案，以節省檢測列噪聲所需的片上存儲空間。

本申請的一些方面提供了一種列噪聲檢測方法，包括，

接收來自CMOS圖像傳感器的圖像序列，該圖像序列中每一幀圖像包括N列像素，其中N為正整數；

對于圖像，從N列像素中取M列，分別檢測該幀圖像中的M列中的每一列的水平頻率響應，以分別確定M列中的每一列是否存在列噪聲，并且，在不同圖像中檢測的像素列互不相同，其中M為正整數,且M＜N；以及

將圖像中的測得M列像素中的每一列是否存在列噪聲的信息緩存到存儲器中。

與現有技術相比，本申請通過減少在每一幀時間中檢測的像素列的數量，節省了用于緩存列噪聲信息的片上存儲空間。

本申請的一些方面提供了一種噪聲檢測裝置，包括，

圖像接收單元，被配置為接收來自CMOS圖像傳感器的圖像序列，該圖像序列中每一幀圖像包括N列像素，其中N為正整數；

列噪聲檢測單元，被配置為對于圖像，從N列像素中取M列，分別檢測該幀圖像中的M列中的每一列的水平頻率響應，以分別確定M列中的每一列是否存在列噪聲，并且，在不同圖像中檢測的像素列互不相同，其中M為正整數,且M＜N；和

緩存單元，被配置為將圖像中的測得M列像素中的每一列是否存在列噪聲的信息緩存到存儲器中。

本申請的一些方面提供了一種機器可讀介質，該機器可讀介質中存儲了指令，該指令被機器運行時，機器執行前述第一方面或第一方面的任一實現方式提供的方法。

本申請的一些方面提供了一種系統，該系統包括處理器和存儲器，存儲器中包含要被處理器執行的指令，處理器用于讀取存儲器中的指令，以執行前述方法。

本申請用處理時間換取片上存儲空間，將列噪聲的檢測過程分到多幀中進行，有效減少了片上緩存空間，有利于圖像處理器的小型化。

附圖說明

圖1是根據本申請的實施例的列噪聲檢測方法的流程圖。

圖2A是根據傳統方法檢測列噪聲的示意圖。

圖2B是根據本申請的實施例在第1-N幀中分別檢測第1-N列的列噪聲的過程的示意圖。

圖3是根據本申請的實施例的列噪聲檢測裝置框圖。