[發明專利]一種基于局部直方圖的聚焦測度實現方法有效
| 申請號： | 201910101956.3 | 申請日： | 2019-01-25 |
| 公開（公告）號： | CN109859151B | 公開（公告）日： | 2023-07-14 |
| 發明（設計）人： | 劉戀;郭立強 | 申請（專利權）人： | 淮陰師范學院 |
| 主分類號： | G06T5/40 | 分類號： | G06T5/40;G06T5/20;G06T5/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 223300 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 局部 直方圖 聚焦 測度 實現 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于局部直方圖的聚焦測度實現方法，其特征在于：具體步驟如下：
步驟S1：將原始圖像像素的行數和列數均調整為2n的整數倍，其中n為正整數，得到圖像f(x，y)，圖像f(x，y)的行數和列數分別用M和N表示；然后對f(x，y)進行高斯濾波處理得到濾波后的圖像g(x，y)；
步驟S2：對圖像g(x，y)進行分塊處理，得到大小為2n×2n像素的子圖像Si(x，y)，其中i＝1，2，...，M×N/22n；子圖像Si(x，y)的變量取值為：x＝0，1，...，2n-1，y＝0，1，...，2n-1；
步驟S3：計算每一幅子圖像的直方圖；
步驟S4：對子圖像的直方圖信息進行統計來構造子圖像的清晰度并標記為Fi；
步驟S5：將所有子圖像清晰度Fi所構成的集合記為{Fi|i＝1，2，...，M×N/22n}，求該集合的方差，并把方差值作為整幅圖像的聚焦測度值；
所述步驟S3中，計算子圖像Si(x，y)直方圖的公式為：
其中rk是子圖像像素的灰度級，rk∈[0，255]；nk是灰度值為rk的像素的個數，22n是子圖像中像素的總個數；
所述步驟S4中子圖像清晰度Fi是通過統計0-127灰度級的直方圖信息，即進行累加求和得到的，具體計算公式為：
2.如權利要求1所述的基于局部直方圖的聚焦測度實現方法，其特征在于：所述步驟S1中，高斯濾波的公式為：
其中σ＝3。
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