[發明專利]一種感應測井儀器測井響應方法及裝置

有效

• 申請號: 201910094007.7
• 申請日: 2019-01-30
• 公開（公告）號: CN109779621B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 唐章宏;許月晨;施青松;王群;李永卿
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;G06F30/20
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;吳歡燕

1.一種感應測井儀器測井響應方法，其特征在于，包括：

基于積分推導獲取屏蔽線圈的匝數、接收線圈匝數、線圈縱向分布長度及線圈間距關系的精確表達式，根據所述表達式校正所述屏蔽線圈的匝數；

對于具有縱向長度分布的發射線圈和接收線圈，基于積分推導獲取儀器常數；

基于高斯積分求解，獲取所述接收線圈的感應電動勢；

根據所述感應電動勢和所述儀器常數，獲取復合線圈系的視電導率；

根據所述視電導率，獲取勘探地層的測井響應；

所述基于積分推導獲取屏蔽線圈匝數、接收線圈匝數、線圈縱向分布長度及線圈間距關系的精確表達式，根據所述表達式校正所述屏蔽線圈的匝數，具體為：

其中，N_B為所述屏蔽線圈的匝數，N_R為所述接收線圈的匝數，L_T為所述發射線圈縱向分布長度，L_B為所述屏蔽線圈縱向分布長度，L_R為所述接收線圈縱向分布長度，L₀為所述發射線圈和所述接收線圈中上方線圈的最下端與下方線圈的最上端的距離，L₁為所述發射線圈和所述屏蔽線圈中上方線圈的最下端與下方線圈的最上端的距離；

所述基于積分推導獲取儀器常數，具體為：

其中，K_TR表示所述儀器常數，ω為角頻率，μ為發射線圈和接收線圈磁芯磁導率，N_T為所述發射線圈的匝數，N_R為所述接收線圈的匝數，L_T為所述發射線圈縱向分布長度，L_R為所述接收線圈縱向分布長度，S_T為所述發射線圈的面積，S_R為所述接收線圈的面積，I為所述發射線圈的電流，L₀為縱向上方線圈的最下端與下方線圈的最上端的距離；

所述基于高斯積分求解，獲取所述接收線圈的感應電動勢，具體為：

其中，V_TR表示所述感應電動勢，ρ_R為所述接收線圈的半徑，N_T為所述發射線圈的匝數，N_R為所述接收線圈的匝數，W_i和W_j為高斯積分權因子，N₁和N₂為所述發射線圈和所述接收線圈縱向分布長度上的高斯點數，E_ij(ξ_i,η_j)表示單匝發射線圈ξ_i在接收線圈η_j處產生的電場；

所述根據所述感應電動勢和所述儀器常數，獲取復合線圈系的視電導率，具體包括：

其中，σ表示所述視電導率，V_jk為發射線圈j發射信號、接收線圈k產生的感應電動勢，K_jk為接收線圈k與發射線圈j的儀器常數。

2.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述基于高斯積分求解，獲取所述接收線圈的感應電動勢之前還包括：

獲取所述接收線圈產生的感應電動勢的積分形式，所述感應電動勢的積分形式如下：

其中，Z_Tmin為所述發射線圈縱向最低位置，Z_Tmax為所述發射線圈縱向最高位置，Z_Rmin為所述接收線圈縱向最低位置，Z_Rmax為所述接收線圈縱向最高位置，E_φ為單匝發射線圈在所述接收線圈處產生的電場。