[發(fā)明專利]一種基于拋物面反光鏡的簡化棱鏡SPR激發(fā)裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910093814.7 | 申請日： | 2019-01-31 |
| 公開（公告）號： | CN109799209B | 公開（公告）日： | 2022-04-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 馬佑橋 | 申請（專利權(quán)）人： | 馬佑橋 |
| 主分類號： | G01N21/552 | 分類號： | G01N21/552;G01N21/01 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 213200 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 拋物面 反光鏡 簡化 棱鏡 spr 激發(fā) 裝置 | ||
1.一種利用拋物面反光鏡簡化表面等離子體共振的棱鏡激發(fā)裝置，其特征在于包括：偏振激光光源(1)，拋物面反光鏡(2)，棱鏡(3)，金屬薄膜(4)，電荷耦合器件檢測器CCD(5)，偏振激光光源1發(fā)出的光經(jīng)過拋物面反光鏡(2)反射到棱鏡(3)上，棱鏡(3)的底面上蒸鍍有能激發(fā)SPR的金屬薄層(4)，當(dāng)滿足SPR激發(fā)條件時，入射光轉(zhuǎn)化為SPR波，入射光能量轉(zhuǎn)變?yōu)榻饘俚慕苟鸁?，從而引起棱鏡(3)底面反射光的強(qiáng)度發(fā)生變化，棱鏡(3)底面的反射光強(qiáng)由電荷耦合器件檢測器CCD(5)探測，偏振激光光源1和電荷耦合器件檢測器CCD(5)安裝于支架6上，且均可上下調(diào)節(jié)位置；
所述棱鏡放置于拋物面反光鏡的焦點(diǎn)處，以保證不同位置偏振光源所發(fā)射的光線能夠入射到棱鏡底面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用拋物面反光鏡簡化表面等離子體共振的棱鏡激發(fā)裝置，其特征在于，相對棱鏡底面而言，偏振激光光源的偏振方向為橫向磁場極化(TM)偏振。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種利用拋物面反光鏡簡化表面等離子體共振的棱鏡激發(fā)裝置，其特征在于，偏振激光光源為選取寬頻光源或單頻光源：當(dāng)選擇寬頻光源，則以頻率變化作為檢測參數(shù)；當(dāng)選擇單頻光源，則以光強(qiáng)變化作為檢測參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用拋物面反光鏡簡化表面等離子體共振的棱鏡激發(fā)裝置，其特征在于，所述棱鏡為柱面棱鏡。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用拋物面反光鏡簡化表面等離子體共振的棱鏡激發(fā)裝置，其特征在于，所述棱鏡為三棱鏡。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
