[發明專利]預測光模塊故障的方法、裝置和設備

在審

• 申請號: 201910093487.5
• 申請日: 2019-01-30
• 公開（公告）號: CN111507363A
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 俞芳芳;董峰;宋偉;楊慶平
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06K9/62
• 分類號: G06K9/62
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329
• 代理人: 時林;毛威

本申請提供了一種預測光模塊故障的方法和裝置。本申請根據光模塊的工作參數對應的分類樣本集確定工作參數的分類閾值，并根據分類閾值與待檢測序列中的多個測量值的比較結果，預測該待檢測序列對應的光模塊在將來是否會發生故障，以便于維護人員重點關注可能發生故障的光模塊，降低光模塊故障對業務造成的影響。

技術領域

本申請涉及光通信領域，并且更具體地，涉及一種預測光模塊故障的方法、裝置和設備。

背景技術

隨著光通訊技術的發展，光模塊在光網絡通訊、光存儲、單光纖1000兆比特每秒(million bits per second，Mbps)基帶傳輸系統(1000Base-SX)等領域有了越來越廣泛的應用。

光模塊在由光電子器件、功能電路和光接口等組成，光電子器件包括發送端口和接收端口，光模塊發送端口把電信號轉換成光信號，通過光纖輸出，對端光模塊的接收端口再把光信號轉換成電信號。

光模塊故障通常被定義為光模塊自身壽命的終止。在實際應用場景中，特別是大型數據中心中，由于光模塊數量眾多，且光模塊的故障會給關鍵業務帶來非常大的影響。因此，工程人員通常更關注是否會出現光模塊故障，以便于快速定位，及時解決問題。

因此，有必要提供一種預測光模塊故障的方法。

發明內容

本申請提供一種預測光模塊故障的方法，能夠在故障發生之前對光模塊是否會發生故障進行預測，以便于維護人員重點關注可能發生故障的光模塊，降低光模塊故障對業務造成的影響。

第一方面，提供了一種預測光模塊故障的方法，包括：獲取光模塊在預設時間段內的待檢測序列，所述待檢測序列包括所述光模塊的工作參數的多個測量值；獲取所述工作參數對應的分類閾值；所述分類閾值是根據所述工作參數對應的分類樣本集生成的；根據所述工作參數對應的分類閾值與所述待檢測序列中的多個測量值的比較結果，確定所述光模塊的第一預測結果，所述第一預測結果指示所述光模塊是否進入故障模式。基于上述技術方案，根據光模塊的工作參數對應的分類樣本集確定工作參數的分類閾值，并根據分類閾值與待檢測序列中的多個測量值的比較結果，預測該待檢測序列對應的光模塊在將來是否會發生故障，以便于維護人員重點關注可能發生故障的光模塊，降低光模塊故障對業務造成的影響

上述工作參數可以為光模塊的偏置電流或光模塊的接收功率，分類閾值可以為偏置電流分類閾值或接收功率分類閾值，本申請實施例可以依據偏置電流的多個測量值與偏置電流分類閾值的比較結果預測光模塊在將來是否會發生故障，和/或，可以依據接收功率的多個測量值與接收功率分類閾值的比較結果預測光模塊在將來是否會發生故障。

可以看出，在使用工作參數對應的分類閾值預測光模塊是否進入故障模式時，只能確定光模塊是否進入故障模式。在確定光模塊進入故障模式時，并不能確定光模塊進入故障模式后發生故障的緊急程度。針對該問題，在本申請實施例中，還可以將根據上述待檢測序列生成的特征集輸入故障預測模型，通過故障預測模型進一步判斷光模塊進入故障模式后發生故障的緊急程度。

在一種可能的實現方式中，當所述第一預測結果指示所述光模塊進入故障模式時，所述方法還包括：根據所述待檢測序列生成特征集；將所述特征集輸入故障預測模型，得到第二預測結果，所述第二預測結果指示所述光模塊預期發生故障的緊急程度。

基于上述技術方案，通過生成待檢測序列的特征集，將該特征集輸入至故障預測模型，該故障預測模型能夠對光模塊從當前時刻起，距離發生故障的緊急程度進行預測，以便于維護人員根據光模塊發生故障的緊急程度，對會在較短時間內發生故障的光模塊盡早處理，降低光模塊故障對業務造成的影響。