[發(fā)明專利]雙異質結光敏二極管及制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910088614.2 | 申請日: | 2019-01-28 |
| 公開(公告)號: | CN109873046B | 公開(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉興釗;范旭東;潘棋;任羿烜;代天軍;羅文博;張萬里;李言榮 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L31/109 | 分類號: | H01L31/109;H01L31/032;H01L31/18 |
| 代理公司: | 成都惠迪專利事務所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 劉勛 |
| 地址: | 610000 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 雙異質結 光敏 二極管 制備 方法 | ||
1.雙異質結光敏二極管,其特征在于,包括自下而上順序設置的單晶基片、第一硫族化合物層、窄禁帶半導體材料層、第二硫族化合物層,窄禁帶半導體材料層覆蓋第一硫族化合物層上表面的局部,第一硫族化合物層的上表面和第二硫族化合物層的上表面各設置有電極;
所述窄禁帶半導體材料層的材料包含Pb1-xSnxSe或Pb1-xSnxTe,其中0≤x≤1;
所述第一硫族化合物層的材料包含Mo1-yWySe2,其中0≤y≤1;
所述第二硫族化合物層的材料包含HfzZr1-zSe2,其中0≤z≤1。
2.如權利要求1所述的雙異質結光敏二極管,其特征在于,
所述窄禁帶半導體材料層的材料為Pb1-xSnxSe或Pb1-xSnxTe,其中0≤x≤1;
所述第一硫族化合物層的材料為Mo1-yWySe2,其中0≤y≤1;
所述第二硫族化合物層的材料為HfzZr1-zSe2,其中0≤z≤1。
3.如權利要求1所述的雙異質結光敏二極管,其特征在于,
所述窄禁帶半導體材料層的厚度為30納米~300納米,
所述第一硫族化合物層的厚度為1.3納米~13納米,
所述第二硫族化合物層的厚度為1.3納米~13納米。
4.如權利要求1所述的雙異質結光敏二極管,其特征在于,所述單晶基片的材質為硅單晶、覆蓋有二氧化硅層的硅單晶、硒化鎘單晶或銻化鎵單晶。
5.雙異質結光敏二極管的制備方法,其特征在于,包括下述步驟:
1)清洗單晶基片;
2)在單晶基片上順序逐層設置第一硫族化合物層、窄禁帶半導體層和第二硫族化合物層;
3)刻蝕窄禁帶半導體層和第二硫族化合物層,至暴露出第一硫族化合物層;
4)在第一硫族化合物層的暴露表面和第二硫族化合物層的上表面設置電極;
所述窄禁帶半導體層的材料包含Pb1-xSnxSe或Pb1-xSnxTe,其中0≤x≤1;
所述第一硫族化合物層的材料包含Mo1-yWySe2,其中0≤y≤1;
所述第二硫族化合物層的材料包含HfzZr1-zSe2,其中0≤z≤1。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





