[發明專利]一種基于準調制摻雜效應的異質結構氧化物薄膜晶體管有效
| 申請號: | 201910087938.4 | 申請日: | 2019-01-29 |
| 公開(公告)號: | CN109888019B | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發明(設計)人: | 裴艷麗;劉玲 | 申請(專利權)人: | 中山大學 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;H01L29/267;H01L21/34 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人: | 陳偉斌 |
| 地址: | 510275 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 調制 摻雜 效應 結構 氧化物 薄膜晶體管 | ||
1.一種基于準調制摻雜效應的異質結構氧化物薄膜晶體管,其特征在于,由下至上依次為柵電極、絕緣柵層、異質有源層、源漏電極,所述的異質有源層包括與絕緣層接觸的窄帶隙氧化物半導體層,位于窄帶隙氧化物半導體層上的寬帶隙氧化物半導體層;所述的窄帶隙氧化物半導體層為氧化銦;所述的窄帶隙氧化物半導體層的界面為平整的單晶或多晶結構,厚度小于10nm;所述的寬帶隙氧化物半導體層為鋁銦氧,厚度小于5nm。
2.根據權利要求1所述的一種基于準調制摻雜效應的異質結構氧化物薄膜晶體管,其特征在于,所述的絕緣柵層為二氧化硅、氧化鋁、氧化鋯或氧化鉿。
3.根據權利要求2所述的一種基于準調制摻雜效應的異質結構氧化物薄膜晶體管,其特征在于,所述的源漏電極與寬帶隙半導體層接觸,源漏電極為金屬電極或者ITO透明電極。
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