[發明專利]基于傳遞函數的脈沖渦流檢測方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201910086980.4
• 申請日: 2019-01-29
• 公開（公告）號: CN109632947B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 沈功田;李建;潘際鑾;劉德宇;沈永娜;王寶軒
• 申請（專利權）人: 中國特種設備檢測研究院;清華大學
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90;G01B7/06;G06F17/15
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟

1.一種基于傳遞函數的脈沖渦流檢測方法，其特征在于，包括：

將由激勵線圈和接收線圈組成的脈沖渦流傳感器置于非鐵磁性金屬被測構件上方，對脈沖渦流傳感器的激勵線圈進行加載含有躍變或脈沖波形的周期電流，其中，所述脈沖渦流傳感器用于檢測非鐵磁性金屬被測構件；

對加載所述周期電流之后的所述激勵線圈中的電流進行采樣，得到所述激勵線圈中的第一目標電流I_x(t)和與所述第一目標電流對應的所述接收線圈的第一輸出信號S_x(t)，其中，電流采樣的采集時長為所述周期電流的電流周期的正整數倍；

通過對所述第一目標電流I_x(t)進行傅里葉變換得到第一目標電流的傅里葉級數I_x(ω)，對所述第一輸出信號S_x(t)進行傅里葉變換得到第一輸出信號的傅里葉級數S_x(ω)，并獲取第一傳遞函數G_x(ω)＝S_x(ω)/I_x(ω)；

計算所述第一傳遞函數G_x(ω)的幅值在高頻成分區間[f_H1,f_H2]上的積分IN_Hx；

根據所述第一傳遞函數的幅值在高頻成分區間上的積分和傳感器提離之間的關系，得到與所述積分IN_Hx對應的傳感器提離L_x；

計算所述第一傳遞函數G_x(ω)的幅值在低頻成分區間[f_L1,f_L2]上的積分IN_Lx；

根據所述傳感器提離L_x時非鐵磁性金屬標樣構件不同壁厚T_j對應的積分IN_Lxj和三次樣條插值的方法，計算所述積分IN_Lx對應的非鐵磁性金屬被測構件的壁厚T_x，其中，j為自然數，所述j取值包括1、2、3、4。

2.根據權利要求1所述的脈沖渦流檢測方法，其特征在于，獲取所述第一傳遞函數的幅值在高頻成分區間上的積分和傳感器提離之間的關系，包括：

將由激勵線圈和接收線圈組成的脈沖渦流傳感器置于非鐵磁性金屬標樣構件上方，對加載所述周期電流之后的所述激勵線圈中的電流進行采樣，得到所述激勵線圈中的第二目標電流I_i(t)和與所述第二目標電流對應的所述接收線圈的第二輸出信號S_i(t)，其中，所述非鐵磁性金屬標樣構件為任一壁厚T_j，所述j為自然數，所述j取值包括1、2、3、4；

通過對所述第二目標電流I_i(t)進行傅里葉變換得到第二目標電流的傅里葉級數I_i(ω)，對所述第二輸出信號S_i(t)進行傅里葉變換得到第二輸出信號的傅里葉級數S_i(ω)，并獲取第二傳遞函數G_i(ω)＝S_i(ω)/I_i(ω)；

獲取所述第二傳遞函數G_i(ω)的幅值在高頻成分區間[f_H1,f_H2]上的積分IN_H，并記錄IN_H和傳感器提離為(IN_Hi,L_i)，其中，i為自然數；

判斷是否滿足已獲得4個不同提離時的IN_H，若是，則通過函數對點(IN_Hi,L_i)進行擬合，得到IN_H和傳感器提離L之間的關系；否則，改變傳感器提離，其中，所述i為自然數，所述i的取值包括1、2、3、4，所述關系通過擬合時所述函數中待定系數a、b、c的值進行描述，所述待定系數a、b、c的取值范圍為全體實數。