[發(fā)明專利]基于主成分分析的微電子機(jī)械系統(tǒng)加速度計(jì)標(biāo)定方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910077271.X | 申請日: | 2019-01-28 |
| 公開(公告)號: | CN109752568B | 公開(公告)日: | 2020-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳錢;錢燁;顧國華;錢惟賢;楊文廣;楊錦清;孔筱芳;張駿;周驍駿;朱國強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 南京理工大學(xué);南京理工晟奧光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01P21/00 | 分類號: | G01P21/00;G06F17/12;G06F17/16 |
| 代理公司: | 南京理工大學(xué)專利中心 32203 | 代理人: | 吳茂杰 |
| 地址: | 210094 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 成分 分析 微電子 機(jī)械 系統(tǒng) 加速度計(jì) 標(biāo)定 方法 | ||
1.一種基于主成分分析的微電子機(jī)械系統(tǒng)加速度計(jì)標(biāo)定方法,其特征在于,包括如下步驟:
(10)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集:將待標(biāo)定加速度計(jì)置于包含能夠進(jìn)行碼盤讀數(shù)的二軸轉(zhuǎn)臺的標(biāo)定平臺上進(jìn)行角速度計(jì)標(biāo)定實(shí)驗(yàn),采集包括加速度計(jì)三軸原始數(shù)據(jù)和二軸轉(zhuǎn)臺碼盤數(shù)據(jù);
(20)線性誤差模型建立:根據(jù)加速度計(jì)的零偏、三軸比例因子和三軸之間的非正交量關(guān)系,構(gòu)建待標(biāo)定加速度計(jì)的線性誤差模型;
(30)線性誤差模型求解:將二軸轉(zhuǎn)臺碼盤數(shù)據(jù)代入線性誤差模型,優(yōu)化求解線性誤差模型各項(xiàng)系數(shù);
(40)各軸殘差量獲?。簩⒕€性誤差模型各項(xiàng)系數(shù)代入線性誤差模型,求得待標(biāo)定加速度計(jì)各軸理論輸出,將所述各軸理論輸出與各軸對應(yīng)的原始數(shù)據(jù)比較,得到各軸殘差量;
(50)各軸最大非線性誤差量獲取:分析待標(biāo)定加速度計(jì)各軸的殘差量,找到所述各軸影響最大非線性誤差量;
(60)加速度計(jì)標(biāo)定:聯(lián)立所找出的各軸的最大的非線性誤差量,結(jié)合線性模型,構(gòu)成完整的加速度計(jì)誤差模型,所有系數(shù)一起參與優(yōu)化,得到各項(xiàng)系數(shù)值,用所述完整的加速度計(jì)誤差模型及各項(xiàng)系數(shù)值對微電子機(jī)械系統(tǒng)加速度計(jì)進(jìn)行標(biāo)定;
所述(50)各軸非線性誤差影響量獲取步驟包括:
(51)特征樣例獲?。焊鶕?jù)待標(biāo)定加速度計(jì)各軸殘差量,列出各軸非線性特征模型,利用加速度計(jì)三軸原始數(shù)據(jù)粗?jǐn)M合出各軸對應(yīng)的特征系數(shù),構(gòu)成所述各軸特征樣例如下,
AA=[ai];
式中,ai表示各軸的加速度計(jì)的第i個(gè)非線性誤差特征;
(52)均值分析:按下式得到均值歸一化值,
其中,
(53)協(xié)方差矩陣計(jì)算:根據(jù)下式得到用以衡量兩個(gè)變量總體誤差的協(xié)方差矩陣,
當(dāng)cov(ai,aj)>0時(shí),表明ai與aj正相關(guān),
當(dāng)cov(ai,aj)<0時(shí),表明ai與aj負(fù)相關(guān),
當(dāng)cov(ai,aj)=0時(shí),表明ai與aj不相關(guān);
(54)特征值特征向量計(jì)算:求解矩陣A的齊次方程組:
|A-λE|=0
式中,E是n維單位陣,方程組的解[λi]為矩陣A的i個(gè)特征值,對應(yīng)的基礎(chǔ)解系[xi]為對應(yīng)的特征向量,對向量做歸一化,得到對應(yīng)的歸一化后的特征向量;
(55)特征向量矩陣計(jì)算:
將特征值按數(shù)值從大到小排序,并將對應(yīng)的特征向量按列向量的方式組合成特征向量矩陣,如下式,
M=[xi];
(56)最大影響非線性誤差量選取:
對特征向量矩陣做投影,得到投影數(shù)據(jù),
MM=ΔAA'×M,
選取投影數(shù)據(jù)MM中最小的一個(gè)作為最大影響非線性誤差量。
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