[發明專利]發光裝置

有效

• 申請號: 201910073137.2
• 申請日: 2019-01-25
• 公開（公告）號: CN110323666B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 大沢政明;神谷真央;和田聰;河村有毅;林健人
• 申請（專利權）人: 豐田合成株式會社
• 主分類號: H01S5/022
• 分類號: H01S5/022;H01S5/042
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 楊鐵成;陳煒

一種發光裝置，包括：激光二極管元件；波長轉換構件，其吸收從激光二極管元件發射的光并且對光的波長進行轉換；以及透明導電膜，其布置在波長轉換構件的光提取側表面和激光二極管元件側表面中的至少之一上。透明導電膜被配置成使得：當波長轉換構件損壞時，與波長轉換構件交疊的區域中的電阻增加。

本申請基于在2018年3月29日提交的日本專利申請第2018-064781號，其全部內容通過引用并入本文。

技術領域

本發明涉及發光裝置。

背景技術

已知一種發光裝置，在該發光裝置中，形成在封裝上以提取光的通孔被波長轉換構件覆蓋，該波長轉換構件吸收從激光二極管元件發射的光并發射具有不同波長的光，并且在波長轉換構件的除了通孔正上方的部分之外的部分上設置有裂縫誘發部(參見例如JP6044833 B)。

JP 6044833 B表明，通過由裂縫誘發部在特定區域中誘發裂縫，可以防止在通孔正上方的波長轉換構件上出現裂縫。此外，其表明可以防止從激光二極管元件發射的光在沒有進行波長轉換的情況下穿過裂縫并泄漏的現象。

此外，已知另一種發光裝置，在該發光裝置中，設置在波長轉換構件上的導電膜和設置在安裝基板上的導電部經由凸塊連接并且形成閉合電路(參見例如JP 2016/122715A)。

JP 2016/122715 A表明，由于當波長轉換構件分離和脫落時閉合電路的導通狀態改變，因此可以通過監測閉合電路的導通狀態來檢測波長轉換構件的分離。此外，其表明可以防止從激光二極管元件發射的光在由于波長轉換構件的分離和不存在而沒有進行波長轉換的情況下泄漏的現象。

發明內容

JP 6044833 B的發光裝置可能具有以下問題：除了視覺檢查以檢測裂縫的出現之外沒有替選方案，以及裝置不具有在出現裂縫的情況下使激光停止發射的任何機構。由此，可能無法檢測到裂縫的出現，同時使得未轉換的光被連續發射。

JP 2016/122715 A的發光裝置可以被配置成檢測波長轉換構件的分離。然而，如果波長轉換構件仍然被附接，則可能無法檢測到損壞例如裂縫的出現。在這種情況下，未轉換的激光可能通過損壞而泄漏。

本發明的目的是提供一種發光裝置，其能夠準確地檢測波長轉換構件上的損壞，以有效地防止由于波長轉換構件上的損壞而造成激光泄漏。

根據本發明的實施方式，可以提供由下述[1]至[6]限定的發光裝置。

[1]一種發光裝置，包括：

激光二極管元件；

波長轉換構件，其吸收從激光二極管元件發射的光并且轉換光的波長；以及

透明導電膜，其布置在波長轉換構件的光提取側表面和激光二極管元件側表面的至少之一上，

其中，透明導電膜被配置成使得：當波長轉換構件損壞時，與波長轉換構件交疊的區域中的電阻增加。

[2]根據[1]的發光裝置，其中，透明導電膜在與波長轉換構件交疊的區域中的厚度在不小于50nm且不大于2000nm的范圍內。

[3]根據[1]或[2]的發光裝置，其中，在與波長轉換構件交疊的區域中的透明導電膜與波長轉換構件接觸。

[4]根據[1]至[3]中任一項的發光裝置，其中，在與波長轉換構件接觸的區域中的透明導電膜包括在與波長轉換構件相對的表面上的凸起部和凹陷部。

[5]根據[1]至[4]中任一項的發光裝置，還包括(一個或多個)配線，所述(一個或多個)配線電連接至發光裝置的透明導電膜并且被設置用于至確定電路的連接，當透明導電膜在與波長轉換構件接觸的區域中的電阻超過預定值時，該確定電路發送停止從用于驅動激光二極管元件的驅動電路向激光二極管元件供電的信號。