[發明專利]電介質陶瓷組合物、電子部件及層疊陶瓷電容器有效
| 申請號: | 201910072676.4 | 申請日: | 2019-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN110092656B | 公開(公告)日: | 2022-05-17 |
| 發明(設計)人: | 高野弘介;佐佐木桃世;兼子俊彥 | 申請(專利權)人: | TDK株式會社 |
| 主分類號: | C04B35/468 | 分類號: | C04B35/468;C04B35/47;C04B35/465;H01G4/12;H01G4/30;C04B35/49 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電介質 陶瓷 組合 電子 部件 層疊 電容器 | ||
本發明提供一種具有優異的可靠性的電介質陶瓷組合物及適用了該電介質陶瓷組合物的電子部件。一種電介質陶瓷組合物,其在A表示A位點的元素、B表示B位點的元素、O表示氧元素的情況下,以通式ABO3表示的鈣鈦礦型化合物為主成分,A包含Ba,A進一步包含選自Ca及Sr中的至少1種,B包含Ti,由X射線衍射法求得的燒結體晶格體積為以下。
技術領域
本發明涉及一種電介質陶瓷組合物及適用有該電介質陶瓷組合物的電子部件、特別是層疊陶瓷電容器。
背景技術
層疊陶瓷電容器從其可靠性的高度和成本的廉價性方面考慮,被用于許多電子設備。其中,近年來,對用作車載用的層疊陶瓷電容器的電介質層,要求高的可靠性。
一直以來,在具備以鈣鈦礦型化合物為主成分的電介質陶瓷組合物作為電介質層的層疊陶瓷電容器中,有在電介質陶瓷組合物的晶粒中形成氧缺陷的傾向。而且,對這樣的電介質陶瓷組合物施加電場時,氧缺陷緩慢地移動至陰極側,成為可靠性降低的原因。
對此,例如專利文獻1中公開有通過控制電介質層中的添加物的分布來抑制氧缺陷量的偏差的技術。但是,該情況下,有時在電介質陶瓷組合物的特性上產生偏差,有可能無法得到充分的可靠性。
另外,關于成為電介質陶瓷組合物的原料的母材,研究了各種制造方法。
例如,專利文獻2中公開了作為原料,使用氧化鈦、碳酸鈣及氫氧化鋇,利用固相法得到母材的技術。
專利文獻3中公開了將鈦酸鋇、稀土氧化物、氧化鈣及氧化鎂在900~1100℃下進行煅燒而得到煅燒物,將其作為原料得到電介質陶瓷組合物的技術。
專利文獻4中公開了一邊將鈦酸鋇和氫氧化鈣進行攪拌一邊煮沸,從而得到鈦酸鋇鈣的技術。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2017-108128號公報
專利文獻2:日本特開2012-176857號公報
專利文獻3:日本特開2001-143955號公報
專利文獻4:日本特開2006-89368號公報
發明內容
發明所要解決的技術問題
本發明的目的在于提供一種具有良好的可靠性的電介質陶瓷組合物及適用了該電介質陶瓷組合物的電子部件、特別是層疊陶瓷電容器。
用于解決問題的技術方案
本發明者們為了實現上述目的進行了深入研究,直至完成本發明。
即,本發明的電介質陶瓷組合物為在A表示A位點的元素、B表示B位點的元素、O表示氧元素的情況下,以通式ABO3表示的鈣鈦礦型化合物為主成分的電介質陶瓷組合物,其中,
A包含Ba,
A進一步包含選自Ca及Sr中的至少1種,
B包含Ti,
由X射線衍射法求得的燒結體晶格體積為以下。
本發明的電介質陶瓷組合物通過這樣成為規定值以下的燒結體晶格體積,從而具有可靠性變得良好的效果。
優選由X射線衍射法求得的所述電介質陶瓷組合物的燒結體晶格體積為以下。
優選所述電介質陶瓷組合物的A包含Ca。
優選由X射線衍射法求得的所述電介質陶瓷組合物的燒結體晶格體積為以上。
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