[發明專利]自適應支付處理系統及方法

在審

• 申請號: 201910071724.8
• 申請日: 2019-01-25
• 公開（公告）號: CN111489151A
• 公開（公告）日: 2020-08-04
• 發明（設計）人: 楊郭英
• 申請（專利權）人: 楊郭英
• 主分類號: G06Q20/38
• 分類號: G06Q20/38;G06Q20/40
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種自適應支付處理系統，其特征在于，包括：

密碼輸入設備，設置在電子支付終端上，用于在啟動電子支付時接收用戶輸入的預設位數的多位數字密碼；

系數檢測設備，設置在電子支付終端上，用于在啟動電子支付時基于臉部成像特征對前端用戶圖像進行臉部檢測，以獲得對應的臉部區域并將所述臉部區域的長寬比作為運算系數輸出。

2.如權利要求1所述的自適應支付處理系統，其特征在于，所述系統還包括：

密鑰生成設備，分別與所述密碼輸入設備和所述系數檢測設備連接，用于將所述預設位數的多位數字密碼與所述運算系數進行相乘運算，以獲得實時密鑰。

3.如權利要求2所述的自適應支付處理系統，其特征在于，所述系統還包括：

序列解析設備，用于基于電子支付終端啟動電子支付的時刻所落在的時間段確定對應的隨機序列；

數據驗證設備，分別與所述密鑰生成設備和所述序列解析設備連接，用于基于所述實時密鑰和所述序列解析設備確定的隨機序列生成支付密碼以用于所述電子支付；

泄露測量設備，分別與系數檢測設備、密鑰生成設備和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳連接，以獲取系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值；

CPLD器件，與所述泄露測量設備連接，用于接收系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值，并對系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值執行加權均值運算以獲得參考引腳電磁泄露值，所述CPLD器件還用于將獲得的參考引腳電磁泄露值乘以權衡因數以獲得系數檢測設備的硅片實體電磁泄露值；

SD存儲芯片，用于預先存儲系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值分別參與加權均值運算的三個權重值；

檔位調整設備，分別與所述系數檢測設備和所述CPLD器件連接，用于在接收到的硅片實體電磁泄露值超過限量時，根據硅片實體電磁泄露值確定對應的下調目標檔位以實現對所述系數檢測設備的工作檔位的調整；

除塵處理設備，設置在系數檢測設備的一側，分別與所述系數檢測設備和PAL控制器件連接，用于在接收到的即時塵埃密度大等于預設塵埃密度閾值時，根據即時塵埃密度確定對應的除塵處理的強度；

密度辨別設備，包括多個密度檢測單元，分別與系數檢測設備、密鑰生成設備和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳連接，以獲取系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度；

PAL控制器件，與所述密度辨別設備連接，用于接收系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度，并對系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前塵埃密度執行加權均值運算以獲得參考引腳塵埃密度，所述PAL控制器件還用于將獲得的參考引腳塵埃密度乘以權衡因數以獲得系數檢測設備所在場景的即時塵埃密度；

其中，在所述SD存儲芯片中，系數檢測設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值、密鑰生成設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值和序列解析設備的當前未使用的懸置引腳的當前電磁泄露值分別參與加權均值運算的三個權重值大小不同；

其中，在所述檔位調整設備中，硅片實體電磁泄露值越大，對應的下調目標檔位越低。

4.如權利要求3所述的自適應支付處理系統，其特征在于：

所述速度調節設備還用于基于所述運算速度下調倍數執行對所述系數檢測設備的當前數據處理速度的下調執行操作；

其中，所述SD存儲芯片還與所述PAL控制器件連接，用于預先存儲所述權衡因數。