[發明專利]一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法在審
| 申請號: | 201910071489.4 | 申請日: | 2019-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN109613606A | 公開(公告)日: | 2019-04-12 |
| 發明(設計)人: | 王書文;劉文武;張超;劉志國 | 申請(專利權)人: | 上海理工大學 |
| 主分類號: | G01T5/00 | 分類號: | G01T5/00 |
| 代理公司: | 上海德昭知識產權代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
| 地址: | 200093 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 目標粒子 衰減 二值化圖像 運動軌跡 數據綜合 計算機 三維運動軌跡 立體匹配 屏幕顯示 特征描述 顯示目標 檢測 黑箱 投射 粒子 穿透 | ||
本發明提供了一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法,用于對黑箱內目標粒子的運動軌跡進行檢測,包括以下步驟:步驟1,對目標粒子進行特征描述和立體匹配;步驟2,開啟第一X射線發生器和第二X射線發生器,發出的第一X射線與第二X射線穿透目標粒子和黑箱中的檢測背景后衰減并投射到第一X射線接收器與第二X射線接收器;步驟3,第一X射線接收器和第二X射線接收器將接收到的衰減后的第一X射線和衰減后的第二X射線傳輸至計算機,該計算機對衰減后的第一X射線和衰減后的第二X射線進行數據綜合處理,得到二值化圖像;步驟4,計算機通過屏幕顯示二值化圖像,并對二值化圖像進行數據綜合處理后顯示目標粒子的三維運動軌跡。
技術領域
本發明涉及一種目標粒子運動軌跡的檢測方法,具體涉及一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法。
背景技術
當前目標粒子運動軌跡的檢測方法,大部分是通過運動目標的可見光圖像來進行檢測,也有利用紅外熱像儀來對運動目標軌跡進行檢測。可見光圖像的運動目標軌跡檢測受光源的影響很大,當光源條件較差時,該方法無法使用。對于利用紅外熱像對運動目標軌跡的檢測,由于紅外熱像儀只能識別物體的表面溫度,所以當運動目標被其它物體遮擋時,則紅外熱像儀無法獲取運動目標的軌跡。因此,當需要檢測黑箱內部運動目標的軌跡時,以上兩種方法均無效。
X射線具備很強的穿透性,可以穿透很多對可見光不透明的物體,不受光照的影響,也不受其它物體遮擋的影響。X射線成像的基本原理,一方面是依靠X射線的穿透性,另一方面是依靠待檢測目標和其它背景物體之間有密度的差異。當X射線穿過待檢測物質時,因被吸收的程度不同,到達射線接收器上的射線量就有差異,最終呈現出的圖像表現為灰度值的不同。因此,使用X射線來對黑箱中的目標進行運動軌跡檢測具有很大的優勢。
發明內容
本發明是為了解決上述黑箱內目標粒子運動軌跡的檢測問題而進行的,目的在于提供一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法。
本發明提供了一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法,用于對黑箱內目標粒子的運動軌跡進行檢測,具有這樣的特征,包括以下步驟:步驟1,對目標粒子進行特征描述和立體匹配來保證目標粒子與黑箱中檢測背景的物體密度不同;
步驟2,開啟第一X射線發生器和第二X射線發生器,使得第一X射線發生器發出第一X射線,第二X射線發生器發出第二X射線,而后第一X射線穿透目標粒子和黑箱中的檢測背景后衰減并投射到用于接收衰減后的第一X射線的第一X射線接收器,第二X射線穿透目標粒子和黑箱中的檢測背景后衰減并投射到用于接收衰減后的第二X射線的第二X射線接收器;
步驟3,第一X射線接收器和第二X射線接收器將接收到的衰減后的第一X射線和衰減后的第二X射線傳輸至計算機,該計算機對衰減后的第一X射線和衰減后的第二X射線進行數據綜合處理,得到二值化圖像;
步驟4,計算機通過屏幕顯示二值化圖像,同時設定灰度值提取閾值來提取二值化圖像中目標粒子的圖像灰度值,對二值化圖像進行數據綜合處理后顯示目標粒子的三維運動軌跡,其中,計算機與第一X射線接收器和第二X射線接收器通信連接。
在本發明提供的一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法中,還可以具有這樣的特征:其中,目標粒子的表面覆蓋有鉛皮來阻擋第一X射線與第二X射線的穿透。
在本發明提供的一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法中,還可以具有這樣的特征:其中,第一X射線發生器和第二X射線發生器為水平正交設置。
在本發明提供的一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法中,還可以具有這樣的特征:其中,第一X射線發生器與第一X射線接收器對立設置,第二X射線發生器與第二X射線接收器對立設置。
在本發明提供的一種目標粒子運動軌跡的X射線檢測方法中,還可以具有這樣的特征:其中,計算機根據二值化圖像中目標粒子的灰度值與黑箱中的檢測背景的灰度值的不同,通過設定灰度值提取閾值來提取目標粒子的灰度值從而生成目標粒子的三維運動軌跡。
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