[發明專利]一種磁共振B0場圖測量方法

有效

• 申請號: 201910069305.0
• 申請日: 2019-01-24
• 公開（公告）號: CN109793518B
• 公開（公告）日: 2022-08-26
• 發明（設計）人: 羅海;彭非;周翔;朱高杰;王超;陳梅濘;呂蓓;吳子岳
• 申請（專利權）人: 奧泰醫療系統有限責任公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 成都高遠知識產權代理事務所(普通合伙) 51222
• 代理人: 曾克;李曉英

1.一種磁共振B0場圖測量方法，其特征在于：包括以下步驟：步驟1，擬合出無相位卷褶的低階場；具體包括：

步驟1.1，采集不同回波時間的K空間數據K₁和K₂；

步驟1.2，對K₁和K₂填零擴充n倍，n≥1；

步驟1.3，傅里葉重建得到不同回波時間的圖像M₁和M₂；

步驟1.4，由圖像M₁和M₂計算有效掩碼區域S；

步驟1.5，計算M₁和M₂的復數相位圖

步驟1.6，計算微分相位圖，基于微分相位圖擬合1階和2階場；

步驟2，從原始B0場圖中減去擬合出的低階場，分離出無相位卷褶的高階場；具體包括：

步驟2.1，從復數相位圖中減去1階和2階場相位圖，得到殘余復數相位圖

步驟2.2，從殘余復數相位圖中擬合全局0階場相位圖

步驟2.3，從殘余復數相位圖中減去全局0階場相位圖得到殘余復數相位圖

步驟2.4，從殘余復數相位圖中計算出剩余高階場相位圖

步驟3，將擬合的1階和2階場、0階場和剩余的高階場相加，得到無相位卷褶的相位圖，由無相位卷褶的相位圖計算得到B0場圖。

2.根據權利要求1所述的磁共振B0場圖測量方法，其特征在于：所述步驟1.5中，利用公式(1)計算復數相位圖

其中，conj表示復數共軛；為復數，其相位即為原始的B0場相位圖。

3.根據權利要求2所述的磁共振B0場圖測量方法，其特征在于：所述步驟1.6中，首先，利用公式(2)(3)(4)分別沿x，y，z三個方向求導，得到微分相位圖；

其中，phase()表示取相位操作，對應于x方向的微分相位圖，對應于y方向的微分相位圖，對應于z方向相位圖；

然后，用2階多項式描述B0場分布，

其中，x，y，z分別為每個像素點的空間坐標，a₁到a₁₀為多項式系數；

對所述2階多項式分別對x，y，z求導，從而得到如下方程組：

其中，a₁到a₉為未知數，取出步驟1.4中得到的有效掩碼區域S的相位點以及對應坐標，可以得到3m個方程，其中m為有效掩碼區域S內的像素點總數，通過最小二乘法求解a₁到a₉；

最后，利用擬合出的多項式系數計算得到無卷褶的1階和2階相位圖

4.根據權利要求3所述的磁共振B0場圖測量方法，其特征在于：所述步驟2.1，利用公式(5)得到減去1階和2階場后的殘余復數相位圖

其中，exp()表示指數函數，i表示虛數單位；

所述步驟2.2，利用公式(6)從殘余復數相位圖中擬合全局0階場也對應于步驟1.6中的多項式系數a₁₀；

所述步驟2.3，從殘余復數相位圖中減去0階場得到殘余復數相位圖其中，exp()表示指數函數，i表示虛數單位；

所述步驟2.4，從殘余復數相位圖中計算殘余高階場相位圖

5.根據權利要求3或4所述的磁共振B0場圖測量方法，其特征在于：所述步驟3中，利用公式(7)得到無相位卷褶的相位圖

6.根據權利要求5所述的磁共振B0場圖測量方法，其特征在于：由公式(8)計算得到B0場圖；

其中，ΔTE為回波時間差，γ為拉莫爾頻率。