[發(fā)明專利]接近傳感器的校準方法與裝置、電子設備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910068707.9
• 申請日: 2019-01-24
• 公開（公告）號: CN109840032B
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發(fā)明（設計）人: 郭富豪;劉紹斌
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 蔡抒楓

1.一種接近傳感器的校準方法，其特征在于，所述方法應用于觸摸顯示屏下方設置有所述接近傳感器的電子設備，所述方法包括：

若檢測到所述電子設備處于息屏狀態(tài)，則獲取所述接近傳感器按照至少兩個不同的紅外發(fā)射功率進行檢測時，各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值；

利用各所述紅外發(fā)射功率，計算各所述紅外發(fā)射功率形成的第一比值，及利用所述各紅外發(fā)射功率對應的接近值，計算各所述接近值形成的第二比值；

當所述第一比值與所述第二比值之間的差值小于或等于預設第一閾值時，確定所述電子設備的上方不存在遮擋物，滿足所述接近傳感器的校準條件；

對所述接近傳感器的接近門限值進行校準。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當所述第一比值與所述第二比值之間的差值大于所述預設第一閾值時，確定所述電子設備的上方存在遮擋物，不滿足所述接近傳感器的校準條件。

3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據(jù)各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，確定所述接近傳感器是否處于接近功能異常狀態(tài)；

當確定所述接近傳感器處于接近功能異常狀態(tài)時，繼續(xù)執(zhí)行所述利用各所述紅外發(fā)射功率，計算各所述紅外發(fā)射功率形成的第一比值，及利用所述各紅外發(fā)射功率對應的接近值，計算各所述接近值形成的第二比值的步驟。

4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，確定所述接近傳感器是否處于接近功能異常狀態(tài)，包括：

獲取已存儲的上一次校準得到的第一底噪值；

當各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值均小于所述第一底噪值；或者，當各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值均大于所述第一底噪值，且與所述第一底噪值之間的差值均大于預設第二閾值時，確定所述接近傳感器處于接近功能異常狀態(tài)；

當所述各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值均大于或等于所述第一底噪值，且與所述第一底噪值之間的差值均小于或等于所述第二閾值時，確定所述接近傳感器未處于接近功能異常狀態(tài)。

5.根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，確定所述接近傳感器是否處于接近功能異常狀態(tài)，包括：

計算各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值中最大接近值與最小接近值的差值，及各所述紅外發(fā)射功率的接近值分別對應的平均值；

當各所述紅外發(fā)射功率的差值均大于預設差值閾值，且各所述紅外發(fā)射功率的接近值分別對應的平均值均未處于底噪值有效范圍內(nèi)時，則確定所述接近傳感器處于接近功能異常的狀態(tài)。

6.根據(jù)權利要求1至4任意一項所述的方法，其特征在于，所述若檢測到所述電子設備處于息屏狀態(tài)，則獲取所述接近傳感器按照至少兩個不同的紅外發(fā)射功率進行檢測時，各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，包括：

若檢測到所述電子設備處于息屏狀態(tài)，且檢測到亮屏指令，則獲取所述接近傳感器按照至少兩個不同的紅外發(fā)射功率進行檢測時，各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，其中，執(zhí)行所述校準方法所需要的時長小于或等于切換時長，所述切換時長為所述觸摸顯示屏從息屏狀態(tài)切換至亮屏狀態(tài)所需要的時長。

7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于，所述獲取所述接近傳感器按照至少兩個不同的紅外發(fā)射功率進行檢測時，各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，包括：

控制所述接近傳感器在預設時長內(nèi)按照至少兩個不同的紅外發(fā)射功率進行紅外發(fā)射，并進行接近值的連續(xù)采樣，得到各所述紅外發(fā)射功率對應的接近值，所述預設時長小于所述切換時長。

8.根據(jù)權利要求1至5任意一項所述的方法，其特征在于，所述對所述接近傳感器的接近門限值進行校準，包括：

確定所述接近傳感器按照實際工作功率進行檢測時，得到的接近值作為第二底噪值；

根據(jù)所述第二底噪值對所述接近傳感器的接近門限值進行校準。