[發明專利]顯示裝置以及顯示系統

在審

• 申請號: 201910064778.1
• 申請日: 2019-01-23
• 公開（公告）號: CN110120194A
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 赤瀨成之;小野剛史;東坂浩由
• 申請（專利權）人: 夏普株式會社
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/20
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 汪飛亞;習冬梅

本發明提供成為簡單的結構而使像素元件驅動，并能夠容易地進行顯示確認的顯示裝置以及顯示系統。具備多個具有像素元件的像素部并向多個像素部輸入圖像顯示用信號的顯示裝置具備測試用終端，該測試用終端對圖像顯示用信號、與從外部輸入的測試用信號進行選擇并向多個像素部輸入。具備多個具有像素元件的像素部并設置有向多個像素部輸入圖像顯示用信號的驅動器電路部的顯示裝置具備測試用終端，該測試用終端對圖像顯示用信號、與從外部輸入的測試用信號進行選擇并向多個像素部輸入，或者驅動器電路部通過從外部輸入的測試用信號，而產生測試信號，并向多個像素部輸入。

技術領域

本發明涉及顯示裝置以及顯示系統。

背景技術

在顯示裝置中，例如驅動器電路部將從外部輸入的圖像數據在多個像素部轉換為圖像顯示用信號，利用驅動電路使多個像素驅動而顯示圖像。這樣的顯示裝置例如使驅動像素元件的驅動電路與像素元件一體形成，并在后工序中搭載驅動器電路部。該情況下，分別獨立地實施搭載了驅動電路的顯示裝置和驅動器電路部是否合格的優劣測試，其后，在搭載了驅動電路的顯示裝置搭載驅動器電路部。而且，作為最終確認，使用從外部輸入的圖像數據和驅動器電路部進行各像素元件的顯示確認測試。即，通過使驅動器電路部動作，來進行各像素元件的顯示確認測試。

現有技術文獻

專利文件

專利文獻1：日本特開2015-59781號公報

發明內容

本發明所要解決的技術問題

然而，在這樣的顯示裝置中，若驅動器電路部未正常動作，則無法進行各像素元件的顯示確認測試。即，在進行了各像素元件的顯示確認測試時未進行各像素元件想要的動作的情況下，無法確定出像素元件側有不良狀況還是驅動器電路部或驅動電路側有不良狀況。

關于這一點，專利文獻1公開有通過利用了PL(光致發光)的PL檢查法來判定不良狀況的技術。然而，在專利文獻1所記載的技術中，需要LED光源、電源、拍攝部之類的結構，用于判定不良狀況的結構復雜化。

例如，對于驅動器電路部和驅動像素元件的驅動電路(例如相同基板具體而言硅基板上的電路，以下有時僅記載為LSI。)形成為一體的一個芯片或在后工序中搭載且像素元件在后工序中貼合的顯示裝置而言，在LSI狀態下對驅動器電路部和驅動像素元件的驅動電路以芯片單體進行動作測試較為困難。因此，需要在后工序中使像素元件貼合后進行各像素的顯示確認。此時，需要驅動器電路部和驅動像素元件的驅動電路的不良狀況的切開，為了進行顯示確認測試需要使驅動器電路部動作。

進一步而言，在LSI的狀態下，需要在以多個存在的像素為單位的像素元件連接而成的端子準備測試用的探測器，驅動像素元件的驅動電路的測試復雜且需要多個探測器，因此測試成本高。

例如，在使像素元件(具體而言LED)貼合于LSI的情況下，為了進行像素元件的顯示確認測試，需要通過從外部輸入的圖像數據使驅動器電路部動作而進行顯示確認測試，為此需要能夠輸入圖像數據的高價的測試設備，花費成本。另外，圖像數據的輸入使用以MIPI(注冊商標)(Mobile Industry Processor Interface)為代表那樣的串行數據輸入，因此數據輸入需要多個時鐘，從而測試時間變長，產生TAT(Turn Around Time)的長期化、測試成本的增加的課題。

另外，在貼合工序以后的每個工序的完成情況確認時每次使用高價的測試器，且進行像素元件的顯示確認測試花費費用且麻煩，從而不現實。

因此，本發明的目的在于提供能夠成為簡單的結構而使像素元件驅動，并容易地進行顯示確認的顯示裝置以及顯示系統。

解決問題的手段

為了解決上述課題，提供以下的第一方式～第三方式的顯示裝置以及顯示系統。