[發明專利]一種AEP高溫告警靈敏度測試方法、裝置、終端及存儲介質

有效

• 申請號: 201910063019.3
• 申請日: 2019-01-23
• 公開（公告）號: CN109815091B
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 范鵬飛
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30;G06F11/32
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉雪萍

本發明提供一種AEP高溫告警靈敏度測試方法、裝置、終端及存儲介質，包括：注入AEP內存高溫虛假信息并記錄注入時間；撤銷AEP內存高溫虛假信息并記錄撤銷時間；采集BMC日志AEP高溫告警項的告警出現時間和告警消失時間；根據告警出現時間與注入時間的一致性和告警消失時間與撤銷時間的一致性表征AEP高溫告警靈敏度。本發明能夠實現自動對AEP高溫告警靈敏度進行測試，測試結果準確，且方法簡單，在節省人力資源的同時又提高了測試效率。

技術領域

本發明屬于服務器測試技術領域，具體涉及一種AEP高溫告警靈敏度測試方法、裝置、終端及存儲介質。

背景技術

AEP(Apache Pass)內存位于硬盤和普通內存之間，卻集成了兩者的優點。其特點主要有兩個：(1)傳輸速度極快；(2)具有非易失性。同硬盤相比，AEP內存的傳輸速度比硬盤快100-1000倍，比普通內存也高出8-10倍。同以往普通內存相比，其具有掉電后數據不會丟失的另一大優勢。

AEP內存的安裝方式同普通內存一樣，也是安裝在內存槽位上。但是AEP內存可通過調整分配設置策略，變成內存模式(memory mode)、硬盤模式(APD mode)或混合模式(mixmode)。AEP內存在使用過程中，根據實際應用場景，存在內存模式(memory mode)、硬盤模式(APD mode)及混合模式(mix mode)三種工作模式。正常使用過程中，AEP內存溫度過高的話，會在BMC日志中出現高溫告警提醒，這是一個很重要的AEP內存工作機制。若AEP溫度過高而BMC日志沒有及時報警，很可能出現AEP損壞，數據丟失的問題。由于AEP三個模式在工作過程中相對獨立，很可能存在報警機制在其中一個模式能夠及時報警，而在切換模式后無法及時報警的問題。

目前還沒有有效測試AEP內存高溫告警靈敏度的方法。

發明內容

針對現有技術無法有效測試AEP內存高溫告警靈敏度，本發明提供一種AEP高溫告警靈敏度測試方法、裝置、終端及存儲介質，以解決上述技術問題。

第一方面，本發明提供一種AEP高溫告警靈敏度測試方法，包括：

注入AEP內存高溫虛假信息并記錄注入時間，包括：將AEP設置為內存模式并利用“set-dimm Temperature＝100”指令注入高溫虛假信息；將AEP設置為硬盤模式并利用“set-dimm Temperature＝100”指令注入高溫虛假信息；將AEP設置為混合模式并利用“set-dimm Temperature＝100”指令注入高溫虛假信息。

撤銷AEP內存高溫虛假信息并記錄撤銷時間，包括：將AEP設置為內存模式并利用“set-dimm Clear＝1 Temperature＝1”指令撤銷高溫虛假信息；將AEP設置為硬盤模式并利用“set-dimm Clear＝1 Temperature＝1”指令撤銷高溫虛假信息；將AEP設置為混合模式并利用“set-dimm Clear＝1 Temperature＝1”指令撤銷高溫虛假信息。

采集BMC日志AEP高溫告警項的告警出現時間和告警消失時間。

根據告警出現時間與注入時間的一致性和告警消失時間與撤銷時間的一致性表征AEP高溫告警靈敏度，包括：設置時間偏差閾值；計算告警出現時間與注入時間的告警時間偏差和告警消失時間與撤銷時間的消失時間偏差；判斷告警時間偏差和消失時間偏差是否均在時間偏差閾值范圍內：是，則判定AEP高溫告警靈敏度合格；否，則判定AEP高溫告警靈敏度不合格且輸出BMC錯誤日志。

第二方面，本發明提供一種AEP高溫告警靈敏度測試裝置，包括：