[發明專利]一種測試模式進入方法及系統

在審

• 申請號: 201910060796.2
• 申請日: 2019-01-22
• 公開（公告）號: CN109490761A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 蔣松鷹;姚煒;周佳寧;杜黎明;孫洪軍
• 申請（專利權）人: 上海艾為電子技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3167
• 分類號: G01R31/3167
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱宗力;王寶筠

本申請公開了一種測試模式進入方法及系統，其中，所述測試模式進入方法設定了兩個測試模式的進入條件，即在模擬單元接收的第一電壓和第二電壓滿足第一預設條件，且所述數字單元接收到預設特征向量時，才使芯片進入測試模式，避免了芯片在正常工作過程中被誤觸發進入測試模式的情況出現，提高了芯片的工作穩定性。這是因為在芯片正常工作過程中，第一電壓的正常取值范圍是高于第二電壓的正常取值范圍的，不可能出現滿足第一預設條件的情況；并且即使在第一電壓和第二電壓滿足第一預設條件的情況下，還需要滿足數字單元接收到預設特征向量才會使芯片進入測試模式，最大程度上杜絕了芯片在正常工作過程中被誤觸發的情況。

技術領域

本申請涉及集成電路技術領域，更具體地說，涉及一種測試模式進入方法及系統。

背景技術

芯片(Integrated Circuit，IC)，也稱為集成電路，是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。

在芯片封裝完成之后，出廠之前，還需要對芯片進行芯片測試，以計算芯片的參數，判斷芯片是否合格。芯片測試是保證出廠的每一顆芯片都滿足芯片的規格要求的必要手段。對于數模混合設計的芯片(即由模擬部分和數字部分構成的芯片)，在數字部分的規模達到一定程度之后，對于數字部分的設計需要進行掃描鏈測試，測試模式的進入需要測試機發送一個觸發信號，以觸發芯片進入掃描測試狀態，此時數字部分的正常邏輯被旁路，以進行掃描鏈測試。

現有技術中的測試模式進入方法通常通過測試機向芯片發送使能信號的方式，實現芯片的測試模式的進入，但在芯片的正常工作過程中，容易出現與使能信號相同的工作信號，從而導致芯片被誤觸發進入測試模式，導致芯片無法正常工作。

發明內容

為解決上述技術問題，本申請提供了一種測試模式進入方法及系統，以實現避免芯片在正常工作過程中出現被誤觸發而進入測試模式的情況的目的，提高了芯片的工作穩定性。

為實現上述技術目的，本申請實施例提供了如下技術方案：

一種測試模式進入方法，應用于芯片，所述芯片包括模擬單元和數字單元，所述模擬單元接收第一電壓和第二電壓，所述測試模式進入方法包括：

獲取所述第一電壓和所述第二電壓；

判斷所述第一電壓和第二電壓是否滿足第一預設條件，如果是，則判斷所述數字單元是否接收到預設特征向量，若是，則進入測試模式；

所述第一預設條件包括：所述第二電壓包括多個連續的，且幅值超過所述第一電壓的電壓脈沖，且在多個所述電壓脈沖后持續保持高電平。

可選的，所述第一預設條件包括：所述第二電壓包括多個連續的，且幅值超過所述第一電壓預設電壓閾值，且持續時間超過預設時間閾值的電壓脈沖，且在多個所述電壓脈沖后持續保持高電平。

可選的，所述預設電壓閾值的取值范圍為0.8±0.1V。

可選的，所述預設時間閾值的取值范圍為500±100ns。

可選的，所述進入測試模式之后還包括：

接收激勵向量，并根據所述激勵向量反饋測試向量，以使測試機根據所述測試向量判斷所述芯片是否通過掃描鏈測試；

判斷所述第二電壓的幅值是否小于所述第一電壓的幅值，如果是，則退出測試模式。

一種測試模式進入系統，應用于芯片，所述芯片包括模擬單元和數字單元，所述模擬單元接收第一電壓和第二電壓，所述測試模式進入系統包括：

電壓獲取模塊，用于獲取所述第一電壓和所述第二電壓；