[發(fā)明專利]一種鋁鎂件測漏設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910059176.7 | 申請日: | 2019-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN111458075A | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 牛凱 | 申請(專利權(quán))人: | 漢達精密電子(昆山)有限公司 |
| 主分類號: | G01M3/02 | 分類號: | G01M3/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鋁鎂件測漏 設(shè)備 | ||
1.一種鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,包括機架、工作臺及至少一個測漏機構(gòu);所述測漏機構(gòu)包括:
定位治具,其設(shè)置于所述工作臺的頂面;所述定位治具連接有用于連通待測鋁鎂件內(nèi)部的連接頭;
測漏儀器,其設(shè)置于所述機架上;所述測漏儀器通過氣管與所述連接頭連通;
密封板,其設(shè)置于所述定位治具的上方;及
驅(qū)動所述密封板上下移動的驅(qū)動裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,所述測漏機構(gòu)設(shè)置有兩個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,所述驅(qū)動裝置為油缸。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,還包括液壓系統(tǒng);各所述油缸均與所述液壓系統(tǒng)連通。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,所述密封板的底面連接有用于對待測鋁鎂件進行定位的定位塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,所述測漏機構(gòu)還包括用于引導所述密封板上下移動的至少兩個導向組件。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的鋁鎂件測漏設(shè)備,其特征在于,各所述導向組件均包括導柱及與所述導柱配套使用的導套;所述導套與所述密封板連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于漢達精密電子(昆山)有限公司,未經(jīng)漢達精密電子(昆山)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910059176.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





