[發明專利]采用單值中智余弦相似度量和遺傳算法的PID參數整定方法在審
| 申請號: | 201910058568.1 | 申請日: | 2019-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN109557811A | 公開(公告)日: | 2019-04-02 |
| 發明(設計)人: | 葉軍;張蘇敏;崔文華;盧雪萍 | 申請(專利權)人: | 紹興文理學院 |
| 主分類號: | G05B11/42 | 分類號: | G05B11/42;G05B13/04 |
| 代理公司: | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 312000 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 相似度量 遺傳算法 余弦 整定 隸屬函數 梯形隸屬函數 初始種群 仿真結果 設計驗證 瞬態特性 隨機生成 應用對象 方便性 | ||
本發明公開了采用單值中智余弦相似度量和遺傳算法的PID參數整定方法,包括單值中智余弦相似度量和遺傳算法兩個部分,其中單值中智余弦相似度量包括:選定三角形和梯形隸屬函數用于中智化過程,選定六種瞬態特性的隸屬函數作為特性集C={C1,C2,C3,C4,C5,C6},可以根據實際應用對象確定單值中智集中的Ti,Ii和Fi(i=1,2,...,6)隸屬函數的類型及其范圍值,遺傳算法的步驟包括:隨機生成N個Kp,Ki和Kd值的解集作為初始種群,通過選擇、交叉、變異尋找最優Kp,Ki和Kd值,以達到適值函數的最小值(min f)。本發明通過設計實例對所提出的整定方法進行了設計驗證,仿真結果表明了所提出的PID參數整定方法的有效性和方便性。
技術領域
本發明涉及工業自動化控制技術領域,特別涉及采用單值中智余弦相似度量和遺傳算法的PID參數整定方法。
背景技術
PID控制是過程控制中廣泛應用的一種控制。按偏差的比例(Proportion)、積分(Integral)、微分(Derivative)控制,簡稱PID控制。由于PID控制器有著結構簡單、穩定性好、工作可靠、調整方便等優點,已成為了工業控制的主要控制技術之一。在PID控制器投入應用之前都需要進行PID參數整定以獲得PID整定參數,所述PID控制器利用所述PID整定參數控制所述被控對象運行。
現有技術中進行PID參數整定的方法通常是利用繼電器法獲得被控對象的數學模型,然后利用Ziegler-Nichols或極點配置等方法來整定PID參數,獲得所述PID整定參數,現有的PID參數整定方法操作不便,并且其整定效果不理想。
發明內容
發明的目的在于提供采用單值中智余弦相似度量和遺傳算法的PID參數整定方法,通過設計實例對所提出的整定方法進行了設計驗證,仿真結果表明了所提出的PID參數整定方法的有效性和方便性,以解決上述背景技術中提出的問題。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:
采用單值中智余弦相似度量和遺傳算法的PID參數整定方法,包括單值中智余弦相似度量和遺傳算法兩個部分,其中單值中智余弦相似度量包括如下步驟:
S1:建立單值中智隸屬函數
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