[發明專利]一種新型熱釋光測量儀樣品清除系統及方法在審
| 申請號: | 201910054311.9 | 申請日: | 2019-01-21 |
| 公開(公告)號: | CN109581459A | 公開(公告)日: | 2019-04-05 |
| 發明(設計)人: | 楊亞新;羅齊彬;張葉;吳信民;鄭勇明;付宸;吳永鵬;肖昆;謝尚平;王帥帥;符志軍;李星陽;胡海澤;趙澤民;龔鵬鵬 | 申請(專利權)人: | 東華理工大學 |
| 主分類號: | G01T1/11 | 分類號: | G01T1/11;G01T7/02;G01N21/71;G01N21/01;G01N21/15 |
| 代理公司: | 重慶市信立達專利代理事務所(普通合伙) 50230 | 代理人: | 包曉靜 |
| 地址: | 344000*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 單向導通閥 瓶塞 熱釋光測量 清除系統 出氣端 進氣端 收集瓶 吸氣球 樣品盤 故障發生率 測量效率 加熱系統 進樣導管 清除裝置 三通導管 時間縮短 吸氣導管 導通閥 螺紋 除掉 可視 聯通 旋進 密封 廢棄 拆除 | ||
本發明屬于樣品清除裝置技術領域,公開了一種新型熱釋光測量儀樣品清除系統及方法,設置有廢樣收集瓶,第一單向導通閥,第二單向導通閥和吸氣球;廢樣收集瓶采用瓶塞通過螺紋旋進密封,瓶塞聯通有一根進樣導管,同時瓶塞通過吸氣導管與第一單向導通閥進氣端相連,第一單向導通閥出氣端和單向第二導通閥進氣端通過三通導管與吸氣球相連,第二單向導通閥出氣端與大氣相連。本發明可以在不拆除樣品盤的情況下將樣品盤中的可視廢棄粉末樣完全清除掉,同時廢樣清除操作時間縮短至約20~30秒/次,極大提高測量效率,并且降低熱釋光測量儀加熱系統的故障發生率。
技術領域
本發明屬于樣品清除裝置技術領域,尤其涉及一種新型熱釋光測量儀樣品清除系統及方法。
背景技術
目前,業內常用的現有技術是這樣的:
熱釋光是礦物或巖石在周圍環境發出的微弱核輻射通量(主要為U、Th系列核素和40K核素)長期作用下產生的一種效應。當礦物或巖石中的晶體如石英、長石和方解石等受到外界放射性核素發出的α、β和γ射線輻照時,有一部分輻射能貯藏在晶體中,一旦晶體受熱至一定溫度,這部分能量則以可見光的形式釋放出來。天然土壤熱釋光測量方法主要采用高靈敏度的熱釋光測量裝置對地表土壤或巖石樣品在漫長的地質年代內累積的天然放射性核素輻射能量進行測量從而達到找礦或其它目的。
天然土壤熱釋光測量方法是一種相對測量方法,其測量對象一般是經80目~100目的分樣篩過篩以后的粉末樣。同時該測量方法每次測量所需的樣品量非常小,通常在毫克級別,在測量完成后需要將熱釋光測量儀樣品盤中的廢棄粉末樣清除掉,避免殘留粉末樣影響下一次的測量結果。常規清除方法是將熱釋光測量儀的樣品盤拆卸下來,然后用毛刷將廢棄粉末樣刷掉。由于樣品盤是通過螺栓固定在熱電偶加熱部件上,因此每次測量完成后將花費大量時間在拆卸樣品盤操作上。其次,由于樣品室狹窄,在拆取樣品盤時非常容易將樣品盤中的粉末樣傾灑在樣品室底部,污染樣品室的同時還大大增加清除樣品室的難度。更重要的是,頻繁拆卸樣品盤必定會造成樣品盤和熱電偶加熱部件的磨損,大大增加熱釋光測量儀的故障發生率。
綜上所述,現有技術存在的問題是:
(1)常規清除方法使得操作人員每次測量完成后花費大量時間在拆卸樣品盤操作上,大大降低實驗測量效率。
(2)常規清除方法中,操作人員在拆取樣品盤時非常容易將樣品盤中的粉末樣傾灑在樣品室底部,污染樣品室的同時還大大增加清除樣品室的難度
(3)常規清除方法中,頻繁拆卸樣品盤必定會造成樣品盤和熱電偶加熱部件的磨損,大大增加熱釋光測量儀的故障發生率。
解決上述技術問題的難度和意義:
解決上述技術問題的難度主要在于,如何在不拆卸樣品盤的情況將盤中的廢棄粉末樣快速清除掉,同時不能使廢棄粉末樣污染樣品室。解決該技術問題后將使得熱釋光測量方法中樣品清除時間大大縮短,從而提高實驗測量效率。
發明內容
針對現有技術存在的問題,本發明提供了一種新型熱釋光測量儀樣品清除系統。
本發明是這樣實現的,一種新型熱釋光測量儀樣品清除系統設置有:
廢樣收集瓶,第一單向導通閥,第二單向導通閥和吸氣球;
廢樣收集瓶采用瓶塞通過螺紋旋進密封,瓶塞聯通有一根進樣導管,同時瓶塞通過吸氣導管與第一單向導通閥進氣端相連,第一單向導通閥出氣端和單向第二導通閥進氣端通過三通導管與吸氣球相連,第二單向導通閥出氣端與大氣相連。
進一步,廢樣收集瓶中上部放置一層多孔海綿,進樣導管出樣端在多孔海綿之下,吸氣導管進氣端在多孔海綿之上,這樣避免粉末樣進入廢樣收集瓶中后產生的揚塵進入吸氣導管和吸氣球。
進一步,進樣導管和吸氣導管與瓶塞之間采用剛性連接、密封。
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