[發(fā)明專(zhuān)利]一種芯片調(diào)試模式下時(shí)鐘處理電路及其時(shí)鐘處理方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910048925.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111459785A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 董宇;張召旭;喬瑛 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 紫光同芯微電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F11/36 | 分類(lèi)號(hào): | G06F11/36;G06F9/4401 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100083 北京市海淀區(qū)五*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 調(diào)試 模式 時(shí)鐘 處理 電路 及其 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種芯片調(diào)試模式下時(shí)鐘處理電路及其時(shí)鐘處理方法。所述時(shí)鐘處理電路包括第一選擇器、第二選擇器、鎖存器和邏輯與門(mén),第一選擇器連接第二選擇器,第二選擇器連接鎖存器,鎖存器連接邏輯與門(mén)。在芯片調(diào)試模式下,芯片對(duì)系統(tǒng)時(shí)鐘進(jìn)行特殊處理,使系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào)正常翻轉(zhuǎn),而且,在芯片進(jìn)入休眠狀態(tài)后,系統(tǒng)時(shí)鐘不會(huì)因?yàn)橄到y(tǒng)休眠而停止,芯片與電腦之間能夠正常發(fā)送和接收確認(rèn)連接狀態(tài)的信號(hào),芯片仍然能正常工作不會(huì)退出調(diào)試模式,解決了芯片運(yùn)行程序調(diào)試過(guò)程中被中斷的難題,既優(yōu)化了芯片運(yùn)行程序開(kāi)發(fā)的流程,又提高了芯片運(yùn)行程序的開(kāi)發(fā)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路數(shù)字設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域, 尤其涉及一種芯片調(diào)試模式下的時(shí)鐘處理電路及其時(shí)鐘處理方法。
背景技術(shù)
芯片運(yùn)行程序開(kāi)發(fā)過(guò)程中,開(kāi)發(fā)人員需要不斷對(duì)芯片運(yùn)行程序調(diào)試,這時(shí)芯片工作模式需要切換成調(diào)試模式,而且,芯片運(yùn)行程序中可能會(huì)包含令芯片系統(tǒng)休眠的命令。當(dāng)芯片進(jìn)入休眠狀態(tài)后,系統(tǒng)時(shí)鐘停止會(huì)導(dǎo)致芯片退出調(diào)試模式,程序調(diào)試過(guò)程中斷,這樣就無(wú)法對(duì)休眠命令后面的程序進(jìn)行調(diào)試。
如圖1所示,為現(xiàn)有的芯片調(diào)試工作原理圖。該芯片調(diào)試工作原理圖中,Chip為芯片,其中包含時(shí)鐘處理電路CLK Circuit;Ulink為芯片和電腦之間的連接工具,Ulink與芯片Chip之間使用JTAG接口連接,Ulink與電腦Computer之間使用USB接口連接;Computer為電腦,存放被調(diào)試的芯片運(yùn)行程序;電腦Computer中存放著芯片Chip的運(yùn)行程序,通過(guò)軟件對(duì)芯片Chip進(jìn)行調(diào)試,程序調(diào)試時(shí),芯片Chip進(jìn)入調(diào)試模式。調(diào)試期間電腦Computer不斷發(fā)送信號(hào)給芯片Chip來(lái)確認(rèn)二者是否處于連接狀態(tài),同時(shí)芯片Chip的CPU也回以應(yīng)答信號(hào)來(lái)確認(rèn)二者正處于連接狀態(tài)。當(dāng)芯片Chip運(yùn)行程序中出現(xiàn)系統(tǒng)休眠命令后,芯片Chip進(jìn)入休眠狀態(tài),芯片Chip因此而退出調(diào)試模式,導(dǎo)致芯片Chip運(yùn)行程序調(diào)試過(guò)程中斷,既影響了芯片Chip運(yùn)行程序開(kāi)發(fā)的流程,還影響了芯片Chip運(yùn)行程序的開(kāi)發(fā)效率。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,本發(fā)明的目的是一種芯片調(diào)試模式下時(shí)鐘處理電路及其時(shí)鐘處理方法,在芯片調(diào)試模式下,芯片對(duì)系統(tǒng)時(shí)鐘進(jìn)行特殊處理,使系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào)正常翻轉(zhuǎn),而且,在芯片進(jìn)入休眠狀態(tài)后,系統(tǒng)時(shí)鐘不會(huì)因?yàn)橄到y(tǒng)休眠而停止,芯片與電腦之間能夠正常發(fā)送和接收確認(rèn)連接狀態(tài)的信號(hào),芯片仍然能正常工作不會(huì)退出調(diào)試模式,能夠繼續(xù)調(diào)試芯片運(yùn)行程序。
為了達(dá)到上述技術(shù)目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種芯片調(diào)試模式下時(shí)鐘處理電路,所述時(shí)鐘處理電路包括第一選擇器、第二選擇器、鎖存器和邏輯與門(mén),第一選擇器連接第二選擇器,第二選擇器連接鎖存器,鎖存器連接邏輯與門(mén);
所述時(shí)鐘處理電路工作時(shí),首先,外部開(kāi)始給予所述時(shí)鐘處理電路外部時(shí)鐘信號(hào),通過(guò)外部配置寄存器使系統(tǒng)休眠信號(hào),系統(tǒng)深睡眠信號(hào)、系統(tǒng)調(diào)試信號(hào)均設(shè)置為0;然后,系統(tǒng)休眠信號(hào)輸入第一選擇器,以系統(tǒng)深睡眠信號(hào)等于0為判斷正確的條件,滿(mǎn)足上述判斷條件,第一選擇器輸出使能休眠信號(hào)恒等于1;而后,系統(tǒng)休眠信號(hào)和使能休眠信號(hào)輸入第二選擇器,以系統(tǒng)調(diào)試信號(hào)等于0為判斷正確的條件,滿(mǎn)足上述判斷條件,第二選擇器輸出休眠信號(hào)跟隨使能休眠信號(hào),休眠信號(hào)等于1;緊接著,外部時(shí)鐘信號(hào)和休眠信號(hào)輸入鎖存器,經(jīng)鎖存器鎖存處理后輸出的使能信號(hào)等于1;最后,外部時(shí)鐘信號(hào)和使能信號(hào)輸入邏輯與門(mén),邏輯與門(mén)處理后輸出與外部時(shí)鐘信號(hào)一樣占空比和時(shí)鐘周期的系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào),結(jié)束處理。
一種芯片調(diào)試模式下時(shí)鐘處理電路的時(shí)鐘處理方法,基于上述時(shí)鐘處理電路,所述處理方法分為如下具體步驟:
步驟1:外部開(kāi)始給予所述時(shí)鐘處理電路外部時(shí)鐘信號(hào)、通過(guò)外部配置寄存器使系統(tǒng)休眠信號(hào),系統(tǒng)深睡眠信號(hào)、系統(tǒng)調(diào)試信號(hào)均設(shè)置為0;
步驟2:系統(tǒng)休眠信號(hào)輸入第一選擇器,以系統(tǒng)深睡眠信號(hào)等于0為判斷正確的條件,滿(mǎn)足上述判斷條件,第一選擇器輸出使能休眠信號(hào)恒等于1;
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
- 一種終端調(diào)試方法和裝置
- 設(shè)備自動(dòng)工程調(diào)試方法、裝置、系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 基于串口的遠(yuǎn)程設(shè)備調(diào)試系統(tǒng)及方法
- 一種安卓系統(tǒng)動(dòng)態(tài)調(diào)試的方法及系統(tǒng)
- 調(diào)試裝置和遠(yuǎn)程調(diào)試系統(tǒng)
- 一種調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)
- 一種應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)的調(diào)試系統(tǒng)及方法
- 樓宇設(shè)備的異地調(diào)試控制方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種芯片調(diào)試系統(tǒng)及芯片調(diào)試方法





