[發(fā)明專(zhuān)利]電子設(shè)備及記錄介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910042960.7
• 申請(qǐng)日: 2019-01-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110072031A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-07-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 新田健一朗
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 京瓷辦公信息系統(tǒng)株式會(huì)社
• 主分類(lèi)號(hào): H04N1/21
• 分類(lèi)號(hào): H04N1/21;H04N1/00
• 代理公司: 北京匯思誠(chéng)業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11444
• 代理人: 龔敏;王剛

本發(fā)明的電子設(shè)備及記錄介質(zhì)早期且理智地判斷是否滿(mǎn)足產(chǎn)品保證期間。系統(tǒng)控制部在將寫(xiě)入保證值設(shè)為(Wmax)、將寫(xiě)入總量設(shè)為(Wsum)、將差的每單位期間的平均值設(shè)為(Ave.)、將每單位期間的寫(xiě)入預(yù)測(cè)量設(shè)為(Wref)、將剩余保證期間設(shè)為(Dremain)時(shí)，通過(guò)運(yùn)算(Dremain)＝[(Wmax)?(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]求出剩余保證期間，并在將經(jīng)過(guò)期間設(shè)為(Dpast)、將使用可能預(yù)測(cè)期間設(shè)為(Dprediction)時(shí)，通過(guò)運(yùn)算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)求出使用可能預(yù)測(cè)期間，在將非易失性存儲(chǔ)器保證的保證期間設(shè)為(Dguarantee)時(shí)，在(Dprediction)<(Dguarantee)的情況下判斷為超量寫(xiě)入。由此，能夠在使用可能預(yù)測(cè)期間(Dprediction)不滿(mǎn)保證期間(Dguarantee)的情況下判斷為超量寫(xiě)入。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及適于非易失性存儲(chǔ)器的管理的電子設(shè)備及記錄介質(zhì)。

背景技術(shù)

例如，在作為電子設(shè)備之一的、復(fù)合機(jī)等MFP(Multifunction Peripheral，多功能打印機(jī))即圖像形成裝置中，存在能夠搭載HDD(Hard Disk Drive，硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器)、SSD(SolidState Drive，固態(tài)硬盤(pán))、SD(Secure Digital Card，安全數(shù)字卡)卡、NOR閃存、NAND閃存等非易失性存儲(chǔ)器的機(jī)種。

然而，在是這些非易失性存儲(chǔ)器中的HDD、和SSD的情況下，搭載有稱(chēng)為S.M.A.R.T.(Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology，自我檢測(cè)分析與報(bào)告技術(shù))的自我診斷功能。另外，在是搭載有自我診斷功能的非易失性存儲(chǔ)器的情況下，通過(guò)使用SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高級(jí)技術(shù)附件)接口，能夠獲得被稱(chēng)為T(mén)BW(Tera Byte Written，萬(wàn)億字節(jié)寫(xiě)入)的表示寫(xiě)入了幾萬(wàn)億字節(jié)的數(shù)據(jù)的寫(xiě)入量。

相對(duì)于此，在是SD卡、NOR閃存、NAND閃存等非易失性存儲(chǔ)器的情況下，由于未搭載有稱(chēng)為S.M.A.R.T.的自我診斷功能，因此，不能獲得稱(chēng)為T(mén)BW的寫(xiě)入保證值。這樣，在不能獲得寫(xiě)入保證值的情況下，檢測(cè)非易失性存儲(chǔ)器的壽命就變得困難。另外，若不能獲得寫(xiě)入保證值的非易失性存儲(chǔ)器在使用過(guò)程中達(dá)到了壽命，則有時(shí)圖像形成裝置不能正常地工作。

為了消除這樣的不理想情況，典型的技術(shù)中，存在如下的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制裝置：由計(jì)數(shù)部件，以分區(qū)單位，對(duì)針對(duì)寫(xiě)入保證值表示的保證次數(shù)較少的第1非易失性存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)寫(xiě)入次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，若應(yīng)該寫(xiě)入數(shù)據(jù)的第1非易失性存儲(chǔ)器的分區(qū)的寫(xiě)入次數(shù)超過(guò)規(guī)定次數(shù)，則由控制部件將需要寫(xiě)入的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到改寫(xiě)保證次數(shù)較多的第2非易失性存儲(chǔ)器。

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的問(wèn)題

在上述的典型的技術(shù)中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制裝置中，以分區(qū)單位，對(duì)針對(duì)改寫(xiě)保證次數(shù)較少的第1非易失性存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)寫(xiě)入次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，在第1非易失性存儲(chǔ)器達(dá)到壽命之前，將數(shù)據(jù)向改寫(xiě)保證次數(shù)較多的第2非易失性存儲(chǔ)器寫(xiě)入，因此，能夠確保數(shù)據(jù)的可靠性。

然而，對(duì)于SD卡、NOR閃存、NAND閃存等非易失性存儲(chǔ)器的壽命，根據(jù)產(chǎn)品保證年數(shù)能夠某種程度地進(jìn)行預(yù)測(cè)。但是，由于數(shù)據(jù)的改寫(xiě)次數(shù)、數(shù)據(jù)的寫(xiě)入量、數(shù)據(jù)的寫(xiě)入間隔等使用條件不同，非易失性存儲(chǔ)器的壽命也會(huì)發(fā)生變化。

因此，如典型的技術(shù)中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制裝置那樣，若僅以第1非易失性存儲(chǔ)器的分區(qū)的寫(xiě)入次數(shù)對(duì)第1非易失性存儲(chǔ)器的壽命進(jìn)行檢測(cè)，則不能在寫(xiě)入次數(shù)超過(guò)規(guī)定次數(shù)之前檢測(cè)出第1非易失性存儲(chǔ)器的壽命。這樣，若不能在寫(xiě)入次數(shù)超過(guò)規(guī)定次數(shù)之前檢測(cè)出第1非易失性存儲(chǔ)器的壽命，則存在不能早期預(yù)測(cè)成為不滿(mǎn)足產(chǎn)品保證年數(shù)的狀態(tài)這一情況的問(wèn)題。

本發(fā)明是鑒于這樣的情況而完成的，其目的在于，提供能夠解決上述問(wèn)題的電子設(shè)備及記錄介質(zhì)。

解決問(wèn)題的方案