[發明專利]一種微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構和調試方法

有效

• 申請號: 201910042340.3
• 申請日: 2019-01-17
• 公開（公告）號: CN109473758B
• 公開（公告）日: 2023-09-12
• 發明（設計）人: 徐榆鴻;楊宇;劉濤;趙金鵬;劉運桃;敬雪玲;張晉誠;馮旭文;孫文輝;周虔;王文飛;宣金陽;彭承敏
• 申請（專利權）人: 西南應用磁學研究所
• 主分類號: H01P1/36
• 分類號: H01P1/36;H01P1/38;H01P11/00
• 代理公司: 成都市熠圖知識產權代理有限公司 51290
• 代理人: 楊金濤

1.一種微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構，包括腔體、所述腔體內的元件和腔體上方的蓋板，其特征在于：所述蓋板包括圓形的母蓋板和子蓋板，所述子蓋板位于母蓋板中間，并且所述子蓋板與母蓋板的圓心重合，所述子蓋板與母蓋板螺紋連接，其中，所述母蓋板中間側面開有與子蓋板連接的螺紋孔，所述子蓋板側面設置有對應的螺紋，子蓋板通過所述螺紋在母蓋板中來回旋進。

2.根據權利要求1所述的微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構，其特征在于：所述子蓋板的厚度小于母蓋板的厚度。

3.根據權利要求1所述的微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構，其特征在于：所述子蓋板上設置有至少兩個通孔。

4.根據權利要求3所述的微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構，其特征在于：所述通孔為兩個，并在所述子蓋板上對稱設置。

5.根據權利要求1所述的微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構，其特征在于：所述腔體、子蓋板和母蓋板采用高導磁材料。

6.根據權利要求5所述的微波鐵氧體環行器隔離器偏置磁場調試結構，其特征在于：所述高導磁材料為工業純鐵材料或A3鋼。

7.采用權利要求1-6任意一項的調試結構進行偏置磁場調試的方法，其特征在于，包括以下步驟：

（1）通過旋擰子蓋板，從而調整子蓋板的高度，以調試腔內磁場；

（2）調試結束后，在母蓋板與腔體連接處、母蓋板與子蓋板連接處涂膠，使母蓋板、子蓋板固定。