[發(fā)明專利]基于少樣本數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910040317.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109885482A | 公開(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙林暢;尚趙偉;趙靈;王敏全;周曄 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36;G06K9/62;G06K9/66;G06N3/04 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275 | 代理人: | 趙榮之 |
| 地址: | 400044 重*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 學(xué)習(xí) 軟件缺陷 深度特征 樣本數(shù)據(jù) 預(yù)測(cè)結(jié)果 度量 預(yù)測(cè) 概率輸出 函數(shù)學(xué)習(xí) 連接網(wǎng)絡(luò) 缺陷數(shù)據(jù) 軟件工程 樣本學(xué)習(xí) 正負(fù)樣本 負(fù)樣本 數(shù)據(jù)集 正樣本 高維 構(gòu)建 樣本 網(wǎng)絡(luò) | ||
1.基于少樣本數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測(cè)方法,其特征在于,該方法具體包括以下步驟:
S1:構(gòu)建基于孿生網(wǎng)絡(luò)(Siamese networks)的深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)(Siamese Dense neuralnetworks,SDNN),即孿生全連接網(wǎng)絡(luò);
S2:輸入正樣本和負(fù)樣本數(shù)據(jù),通過(guò)SDNN網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行少樣本學(xué)習(xí),提取樣本對(duì)數(shù)據(jù)的高層次深度特征;
S3:采用度量學(xué)習(xí)函數(shù)對(duì)步驟S2中提取的高層次深度特征進(jìn)行比較學(xué)習(xí)和概率輸出,調(diào)節(jié)正負(fù)樣本比例,設(shè)置函數(shù)學(xué)習(xí)參數(shù),使度量學(xué)習(xí)函數(shù)更加關(guān)注對(duì)有缺陷數(shù)據(jù)特征的學(xué)習(xí);
S4:獲得預(yù)測(cè)結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于少樣本數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測(cè)方法,其特征在于,步驟S1中,所述孿生全連接網(wǎng)絡(luò)是一對(duì)完全相同的全連接網(wǎng)絡(luò),結(jié)構(gòu)的層次和參數(shù)設(shè)置相同,用于學(xué)習(xí)高維數(shù)據(jù)特征。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于少樣本數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測(cè)方法,其特征在于,步驟S3中,所述度量學(xué)習(xí)函數(shù)包括距離度量函數(shù)和余弦相似度距離度量函數(shù);
距離學(xué)習(xí):如果輸入的向量X1和X2表示正負(fù)樣本數(shù)據(jù)對(duì),w表示SDNN網(wǎng)絡(luò)共享參數(shù),Hw(X1)和Hw(X2)表示輸入向量對(duì)的特征映射空間,則孿生全連接網(wǎng)絡(luò)的距離度量函數(shù)定義為:
Dw(X1,X2)=||Hw(X1)-Hw(X2)||
其中,Dw(X1,X2)表示歐幾里得距離,用來(lái)度量學(xué)習(xí)輸入樣本對(duì)間的距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于少樣本數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測(cè)方法,其特征在于,步驟S3中,相似學(xué)習(xí):引入類內(nèi)距離學(xué)習(xí)函數(shù),即余弦相似度距離度量函數(shù)(cosine-proximity),用來(lái)加強(qiáng)樣本對(duì)類內(nèi)相似性學(xué)習(xí),增強(qiáng)正負(fù)樣本對(duì)的判別能力;則所述余弦相似度距離度量函數(shù)定義為:
其中,i表示第i層網(wǎng)絡(luò),N是所有樣本,y(i)代表第i層網(wǎng)絡(luò)樣本的標(biāo)簽值,Li(w,y,X1,X2)的值在[-1,1]之間,如果它的值越接近1則代表樣本對(duì)類內(nèi)間的相似度越高;為了加強(qiáng)正負(fù)樣本對(duì)間的判別能力,取余弦相似距離度量函數(shù)值的相反數(shù)作為鑒別度添加到度量學(xué)習(xí)函數(shù)中,則最終的度量學(xué)習(xí)函數(shù)定義為:
Lend=-αLi(w,y,X1,X2)+Dw(X1,X2)
其中,α是正負(fù)樣本比例調(diào)節(jié)系數(shù),通過(guò)它控制正負(fù)樣本量學(xué)習(xí)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于少樣本數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)的軟件缺陷預(yù)測(cè)方法,其特征在于,步驟S3中,如果輸出的概率值小于0.5,則學(xué)習(xí)的樣本對(duì)數(shù)據(jù)屬于同一類,如果輸出的概率值大于0.5,則輸入學(xué)習(xí)的樣本對(duì)屬于不同類數(shù)據(jù)。
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G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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