[發明專利]一種畫面參數計算方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201910040245.X
• 申請日: 2019-01-16
• 公開（公告）號: CN109493825B
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 李瑞蓮;石俠;聶春揚;魏雪琴;郭磊;戴珂
• 申請（專利權）人: 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

本發明實施例提供了一種畫面參數計算方法、裝置及存儲介質，畫面參數計算方法包括：獲取顯示面板上的一個或多個待檢測區域在相同發光模式或不同發光模式下的亮度值；根據所獲取的亮度值，確定顯示畫面的品質系數P；根據所述品質系數P，確定細紋Fine Pitch的等級大小。這樣可以對Fine Pitch問題進行定量分析，判斷結果準確，且效率高，可以適應8K大尺寸顯示面板產品的發展需求。

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，特別涉及一種畫面參數計算方法、裝置及存儲介質。

背景技術

近年來，人們對顯示面板的要求越來越高，液晶顯示產品也逐漸向大尺寸、高分辨率的方向發展。8K產品應運而生，以其7680畫面參數計算裝置4320的超高分辨率，在市場上獨占鰲頭。由于8K產品負載較大，像素點較小，若選擇常用的幀反轉、列反轉方式，畫質效果會受到影響，而點反轉方式畫質較好，但功耗過大，也不能滿足需求。因此，可選擇使用Z反轉方式。Z反轉方式的顯示裝置在某些特定的Pattern(模式)下會有Fine Pitch(細紋)的問題。

目前，現有Fine Pitch的畫質評價方法基本還停留在人眼判定上，該Fine Pitch的畫質評價方法具有強烈的主觀性，判定結果不準確，且效率較低，已經不能適應8K大尺寸顯示面板產品的發展需求。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種畫面參數計算方法、裝置及存儲介質，以解決傳統的判定方法的判定結果不準確，不能適應8K大尺寸顯示面板產品的發展需求。

依據本發明實施例的一個方面，提供了一種畫面參數計算方法，包括：

獲取顯示面板上的一個或多個待檢測區域在相同發光模式或不同發光模式下的亮度值；

根據所獲取的亮度值，確定顯示畫面的品質系數P；

根據所述品質系數P，確定細紋Fine Pitch的等級大小。

可選地，所述獲取顯示面板上的一個或多個待檢測區域在相同發光模式或不同發光模式下的亮度值，包括：

獲取所述顯示面板上的第一待檢測區域在第一發光模式下的亮度值，以及所述第一待檢測區域在第二發光模式下的亮度值；其中，當所述顯示面板處于所述第一發光模式時，所述顯示面板的所有像素子單元達到充電飽合狀態；當所述顯示面板處于所述第二發光模式時，所述顯示面板的一種顏色的像素子單元不點亮；

所述根據所獲取的亮度值，確定顯示畫面的品質系數P，包括：

根據所述第一待檢測區域在第一發光模式下的亮度值，以及所述第一待檢測區域在第二發光模式下的亮度值，確定顯示畫面的品質系數P。

可選地，所述獲取所述顯示面板上的第一待檢測區域在第一發光模式下的亮度值，以及所述第一待檢測區域在第二發光模式下的亮度值，包括：

獲取所述第一待檢測區域在所述第一發光模式下通過第一濾光片后的第一亮度值Y1，以及所述第一待檢測區域在所述第一發光模式下通過第二濾光片后的第二亮度值Y2；其中，所述第一濾光片和所述第二濾光片的顏色不同；

獲取所述第一待檢測區域在第二發光模式下通過第一濾光片后的第三亮度值Y3，以及所述第一待檢測區域在第二發光模式下通過第二濾光片后的第四亮度值Y4；

所述根據所述第一待檢測區域在第一發光模式下的亮度值，以及所述第一待檢測區域在第二發光模式下的亮度值，確定顯示畫面的品質系數P，包括：

根據所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，確定顯示畫面的品質系數P。

可選地，所述根據所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，確定顯示畫面的品質系數P，包括：