[發明專利]X、γ、β場下眼晶體劑量的直讀式監測方法

在審

• 申請號: 201910039784.1
• 申請日: 2019-01-16
• 公開（公告）號: CN111443372A
• 公開（公告）日: 2020-07-24
• 發明（設計）人: 趙文志;程健強;白海燕;趙開飛
• 申請（專利權）人: 山西宏潤核安科技有限公司
• 主分類號: G01T1/02
• 分類號: G01T1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供X、γ、β場下眼晶體劑量的直讀式監測方法，監測方法包括如下步驟：步驟一，X、γ、β直讀式眼晶體劑量計探測器的構建；步驟二，產生的電脈沖信號由脈沖信號放大模塊進行放大；步驟三，放大后的脈沖信號由譜測量電路進行測量；步驟四，單片機進行數據分析，并得出眼晶體劑量值，與現有技術相比，本發明結構合理，方便眼晶體劑量監測，監測準確，保障健康。

技術領域

本發明是X、γ、β場下眼晶體劑量的直讀式監測方法，屬于眼晶體劑量進行實時監測方法技術領域。

背景技術

由于人體眼晶體在受到較大的電離輻射劑量的照射下，可能發生白內障，需要通過對眼晶體劑量的監測來確保人體眼晶體所受的劑量不致過高。電子式眼晶體劑量計可在人員受到的劑量率或累積劑量超過設定閾值時報警，使得人員實時獲知當前受照情況并采取相應的對策，是合理降低人員眼晶體所受劑量并確保該劑量不超過限值的有力工具之一。

目前市場上有純光子場(X、γ輻射場)的直讀式眼晶體劑量當量儀。該儀器利用GM計數管(蓋革計數管)進行測量，可以實現對H_p(0.07)、H_p(3)、H_p(10)的測量，可以佩戴于額頭進行眼晶體劑量的測量，但其缺點是由于GM管的自身特性，使得該方法僅能進行X、γ輻射場中的測量，當輻射場中β射線對眼晶體劑量的貢獻不能忽視時，該監測方法不適用，現在急需X、γ、β場下眼晶體劑量的直讀式監測方法解決上述問題。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明目的是提供X、γ、β場下眼晶體劑量的直讀式監測方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為了實現上述目的，本發明是通過如下的技術方案來實現：X、γ、β場下眼晶體劑量的直讀式監測方法，用于對X、γ、β場下人員的眼晶體劑量進行實時監測，所述監測方法包括如下步驟：

步驟一，X、γ、β直讀式眼晶體劑量計探測器的構建；

步驟二，產生的電脈沖信號由脈沖信號放大模塊進行放大；

步驟三，放大后的脈沖信號由譜測量電路進行測量；

步驟四，單片機進行數據分析，并得出眼晶體劑量值。

進一步地，所述X、γ、β直讀式眼晶體劑量計探測器由不透光組織等效材料層、探測層、透光組織等效材料層、SiPM層以及避光層組成，所述不透光組織等效層為2.4mm厚黑色尼龍板，所述探測層為0.48mm厚塑料閃爍體，所述透光組織等效層為3.0mm厚有機玻璃，所述SiPM層為一個硅光電倍增管，所述避光層為0.5mm厚鋁。

進一步地，所述探測層應足夠薄，使入射射線在其中的衰減量可以忽略，所述探測層厚度等效為人體組織厚度，所述探測層厚度的二分之一加不透光組織等效層的厚度的值應等于或接近3mm。

進一步地，所述脈沖信號放大模塊由電壓靈敏放大器與主放大器構成，所述脈沖放大模塊輸出的脈沖幅度與射線在探測層內塑料閃爍體中沉積的能量成正比。

進一步地，所述步驟一具體包括：

(1)、探測層測到距人體表面3mm厚度處物質的吸收劑量；

(2)、入射射線經過探測層時，與探測層物質發生相互作用，在探測層內沉積能量，且沉積的能量轉換為可見光；

(3)、探測層產生的可見光穿透到達SiPM層，入射到SiPM層表面的光子轉換為電脈沖信號輸出，SiPM層后接脈沖信號放大模塊及譜測量電路。

進一步地，所述步驟二具體包括：

(1)、經與二級管正極端相連接的2000pF電容輸出后的脈沖，脈沖信號放大模塊進行放大；

(2)、放大后的脈沖信號傳導至譜測量電路。