[發(fā)明專(zhuān)利]一種具有強(qiáng)制p型表面態(tài)的InAs/GaSb(Bi)二類(lèi)超晶格光探測(cè)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910039087.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109801993B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹健龍;宋禹析 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 浙江焜騰紅外科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L31/0304 | 分類(lèi)號(hào): | H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/109 |
| 代理公司: | 嘉興啟帆專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 丁鵬 |
| 地址: | 314000 浙江省嘉興市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 強(qiáng)制 表面 inas gasb bi 二類(lèi)超 晶格 探測(cè)器 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種具有強(qiáng)制p型表面態(tài)的InAs/GaSb(Bi)二類(lèi)超晶格光探測(cè)器,所述光探測(cè)器的吸收區(qū)為p型,所述二類(lèi)超晶格光探測(cè)器的吸收區(qū)包括有InAs層和GaSb層,所述GaSb層中凝入有Bi元素,Bi元素將吸收區(qū)的能帶結(jié)構(gòu)中超晶格價(jià)帶頂抬升至距離表面態(tài)小于3kBT,或者高于表面態(tài)。本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過(guò)在傳統(tǒng)的InAs/GaSb二類(lèi)超晶格光探測(cè)器吸收區(qū)的GaSb層中凝入一定量的Bi元素,通過(guò)Bi元素使得吸收區(qū)中超晶格價(jià)帶抬升至高于吸收區(qū)的表面態(tài),從而使得表面態(tài)轉(zhuǎn)變成與吸收區(qū)同型的p型,消除表面SRH暗電流,提高探測(cè)器的性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于二類(lèi)超晶格光探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種具有強(qiáng)制p型表面態(tài)的InAs/GaSb(Bi)二類(lèi)超晶格光探測(cè)器。
背景技術(shù)
表面態(tài)是固體自由表面或固體間接口附近局部性的電子能態(tài)。由于固體表面原子結(jié)構(gòu)不同于體內(nèi)原子結(jié)構(gòu),使得表面能級(jí)既不同于固體體能帶,也不同于孤立原子能級(jí)。半導(dǎo)體表面態(tài)通常位于基本禁帶中或禁帶邊緣附近。當(dāng)前InAs/GaSb光探測(cè)器表面態(tài)的費(fèi)米能級(jí)均位于禁帶中。常見(jiàn)探測(cè)器中的吸收區(qū)多為弱p型,這樣少數(shù)載流子是電子,具有比空穴高很多的遷移率。p型吸收區(qū)與上述表面態(tài)會(huì)形成大量的SRH復(fù)合中心,從而導(dǎo)致大表面暗電流,限制探測(cè)器的性能。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種具有強(qiáng)制p型表面態(tài)的InAs/GaSb(Bi)二類(lèi)超晶格光探測(cè)器,所述光探測(cè)器的吸收區(qū)為p型,所述二類(lèi)超晶格光探測(cè)器的吸收區(qū)包括有InAs層和GaSb層,所述GaSb層中凝入有Bi元素,Bi元素將吸收區(qū)的能帶結(jié)構(gòu)中超晶格價(jià)帶頂抬升至距離表面態(tài)小于3kBT,或者高于表面態(tài)。
GaSb層中Bi元素的含量小于15%。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過(guò)在傳統(tǒng)的InAs/GaSb二類(lèi)超晶格光探測(cè)器吸收區(qū)的GaSb層中凝入一定量的Bi元素,通過(guò)Bi元素使得吸收區(qū)中超晶格價(jià)帶抬升至高于吸收區(qū)的表面態(tài),從而使得表面態(tài)轉(zhuǎn)變成與吸收區(qū)同型的p型,消除表面SRH暗電流,提高探測(cè)器的性能。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明InAs/GaSb(Bi)二類(lèi)超晶格光探測(cè)器的能帶結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
現(xiàn)結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
如圖1所示,一種具有強(qiáng)制p型表面態(tài)的InAs/GaSb(Bi)二類(lèi)超晶格光探測(cè)器,所述光探測(cè)器的吸收區(qū)為p型,所述二類(lèi)超晶格光探測(cè)器的吸收區(qū)包括有InAs層和GaSb層,所述GaSb層中凝入有Bi元素,Bi元素將吸收區(qū)的能帶結(jié)構(gòu)中超晶格價(jià)帶頂抬升至距離表面態(tài)小于3kBT,或者高于表面態(tài)。
GaSb層中Bi元素的含量小于15%。具體結(jié)構(gòu)可以是7ML InAs/10ML GaSb0.94Bi0.06(ML,原子層),其吸收區(qū)能帶結(jié)構(gòu)中超晶格價(jià)帶抬升狀態(tài)如圖1所示。
以上詳細(xì)描述了本發(fā)明的較佳具體實(shí)施例,應(yīng)當(dāng)理解,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員無(wú)需創(chuàng)造性勞動(dòng)就可以根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)思做出諸多修改和變化,因此,凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人員依本發(fā)明的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過(guò)邏輯分析、推理或者有限的實(shí)驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案,皆應(yīng)在由權(quán)利要求書(shū)所確定的保護(hù)范圍內(nèi)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專(zhuān)門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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