[發明專利]一種用于測量顆粒物沉積路徑的冷卻器及其測量方法

有效

• 申請號: 201910037246.9
• 申請日: 2019-01-15
• 公開（公告）號: CN109682728B
• 公開（公告）日: 2023-09-22
• 發明（設計）人: 田維;李錦會;張洪川;李均同;杜德峰;王玉鑫;韓志強;吳學舜
• 申請（專利權）人: 西華大學
• 主分類號: G01N15/04
• 分類號: G01N15/04
• 代理公司: 成都禾創知家知識產權代理有限公司 51284
• 代理人: 裴娟

1.一種用于測量顆粒物沉積路徑的冷卻器，包括進氣端安裝座(114)和出氣端安裝座(104)，其特征在于，所述進氣端安裝座(114)和出氣端安裝座(104)之間固定一條中心桿(107)，在中心桿(107)外部套有換熱管，所述換熱管由若干換熱管段(106)通過換熱管段法蘭盤(111)進行連接；在換熱管外部套有冷卻水套(105)，所述冷卻水套(105)一側設置有冷卻水進水卡盤(109)，另一側設置有冷卻水出水卡盤(108)；在每節所述換熱管段(106)之間設置有換熱管段安裝墊片(110)；所述中心桿(107)一端置于出氣端安裝座(104)中心的安裝孔，并通過第一定位銷(102)固定；所述中心桿(107)另一端置于進氣端安裝座(114)中心的安裝孔，并通過第二定位銷(113)固定。

2.如權利要求1所述的一種用于測量顆粒物沉積路徑的冷卻器，其特征在于，所述進氣端安裝座(114)上和出氣端安裝座(104)上都裝有冷卻水套密封膠圈(103)。

3.如權利要求1所述的一種用于測量顆粒物沉積路徑的冷卻器，其特征在于，所述換熱管段法蘭盤(111)外套有法蘭盤套筒(112)。

4.如權利要求1所述的一種用于測量顆粒物沉積路徑的冷卻器的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：運行廢氣測試系統，將廢氣通入冷卻器中；每間隔相同時間采集一次并標記儲存前端冷卻器顆粒分析儀、后端顆粒分析儀所測得的顆粒物排放信息；

步驟2：通過對比相同換熱管段(106)條件下前端顆粒分析儀和后端顆粒分析儀的排放差別得知顆粒物在整個冷卻器內沉積的數量和粒徑分布，通過對比不同數量換熱管段(106)條件下沉積在冷卻器內的顆粒物數量分布和粒徑分布，獲得顆粒物在冷卻器內的沉積路徑；

步驟3：通過對比分析冷卻器顆粒物沉積路徑與不同位置換熱管段(106)換熱效率的變化，得到顆粒物沉積路徑對換熱效率的影響規律。

5.如權利要求4所述測量方法，其特征在于，還包括步驟4：通過對比分析不同位置各換熱管段(106)重量差Δm的變化和換熱效率η的變化得到換熱管段顆粒物沉積質量對換熱管換熱效率的影響規律。

6.如權利要求4所述測量方法，其特征在于，還包括步驟5：通過對比分析不同位置換熱管段(106)內沉積物的表面形態以及微觀結構的變化與換熱管段換熱效率的變化，得到顆粒物微觀結構對換熱管段換熱效率的影響規律。

7.如權利要求4所述測量方法，其特征在于，還包括步驟6：綜合對比分析每一換熱管段(106)重量差Δm、換熱管段(106)內沉積物表面形態與微觀結構、換熱效率，研究顆粒物在換熱管(106)內各段的沉積路徑及其對各冷卻器換熱管段性能的影響。