[發(fā)明專利]一種三維測量裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910033704.1
• 申請日: 2019-01-14
• 公開（公告）號: CN109520392A
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張鳳嬌;葉鳴;王海英
• 申請（專利權(quán)）人: 大連自然博物館
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/20;G01B11/00;G01B11/24
• 代理公司: 大連至誠專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 21242
• 代理人: 楊威;張海燕

1.一種三維測量裝置，其特征在于，包括:

水平標(biāo)尺板、豎直標(biāo)尺板及底座；

所述水平標(biāo)尺板與所述豎直標(biāo)尺板均設(shè)置有交織的橫向、縱向刻度線，所述豎直標(biāo)尺板包括第一標(biāo)尺板和第二標(biāo)尺板，所述豎直標(biāo)尺板展開后的所述第一標(biāo)尺板和所述第二標(biāo)尺板相互垂直，且均與所述水平標(biāo)尺板垂直。

所述底座用于放置所述水平標(biāo)尺板、豎直標(biāo)尺板，所述底座四周設(shè)置用于支撐所述豎直標(biāo)尺板及所述水平標(biāo)尺板的邊沿。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維測量裝置，其特征在于，還包括，所述底座開設(shè)有通孔。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維測量裝置，其特征在于，所述水平標(biāo)尺板和所述豎直標(biāo)尺板內(nèi)部設(shè)置磁性介質(zhì)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的三維測量裝置，其特征在于，還包括，用于標(biāo)記測量物的三維尺寸的定位簽；

所述定位簽包括：X0Y面定位簽、X0Z面定位簽及Y0Z面定位簽。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的三維測量裝置，其特征在于，所述定位簽包括第一定位結(jié)構(gòu)和第二定位結(jié)構(gòu)，所述第一定位結(jié)構(gòu)和第二定位結(jié)構(gòu)相互垂直，所述第一定位結(jié)構(gòu)或者第二定位結(jié)構(gòu)吸附于所述水平標(biāo)尺板或者豎直標(biāo)尺板表面。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的三維測量裝置，其特征在于，所述定位簽包括第一定位結(jié)構(gòu)和第二定位結(jié)構(gòu)，所述第一定位結(jié)構(gòu)和第二定位結(jié)構(gòu)相互垂直，所述第一定位結(jié)構(gòu)和第二定位結(jié)構(gòu)都吸附于所述水平標(biāo)尺板或者豎直標(biāo)尺板表面。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的三維測量裝置，其特征在于，還包括，用于標(biāo)記測量物的三維尺寸的磁珠；

所述磁珠用于標(biāo)記測量物的三維尺寸，所述磁珠可吸附于所述水平標(biāo)尺板、豎直標(biāo)尺板表面的任意位置。

8.一種三維測量方法，其特征在于，包括：

將所述水平標(biāo)尺板設(shè)置于所述底座內(nèi)，所述水平標(biāo)尺板設(shè)置有交織的橫向、縱向刻度線；

所述豎直標(biāo)尺板的第一標(biāo)尺板和第二標(biāo)尺板夾角90°展開，并與所述水平標(biāo)尺板垂直設(shè)置于所述底座內(nèi)，所述第一標(biāo)尺板和第二標(biāo)尺板設(shè)置有交織的橫向、縱向刻度線；

將被測量物放置于所述第一標(biāo)尺板、所述第二標(biāo)尺板和所述水平標(biāo)尺板的連接處。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述將被測量物放置于所述第一標(biāo)尺板、所述第二標(biāo)尺板和所述水平標(biāo)尺板的連接處之后，還包括：

在所述被測量物對應(yīng)所述第一標(biāo)尺板、第二標(biāo)尺板和水平標(biāo)尺板的正投影的邊界處放置多個定位簽或者磁珠。