[發(fā)明專利]一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910033423.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109755363B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 云峰;蘇喜林;李虞鋒;張敏妍;郭茂峰;李琨;趙丁 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L33/06 | 分類號(hào): | H01L33/06;H01L33/02;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 徐文權(quán) |
| 地址: | 710049 *** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光譜 半導(dǎo)體 有源 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件,其特征在于,包括外延基底(100)和形成于外延基底(100)上的多層半導(dǎo)體結(jié)構(gòu);其中,
多層半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括依次形成于外延基底(100)上的第一半導(dǎo)體層(200)、有源層(301)、電子阻擋層(400)、第二半導(dǎo)體層(500),以及分別與第一半導(dǎo)體層(200)和第二半導(dǎo)體層(500)直接或間接電連接的第一電極(600)和第二電極(700);
有源層(301)包含多量子阱結(jié)構(gòu)或多層量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)(302),且多量子阱結(jié)構(gòu)或多層量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)(302)的周期數(shù)為10~30周期;且有源層(301)包含多級(jí)調(diào)制結(jié)構(gòu)層;調(diào)制結(jié)構(gòu)位于多量子阱結(jié)構(gòu)與第一半導(dǎo)體層(200)之間,每一級(jí)的調(diào)制結(jié)構(gòu)層包含缺陷層和修復(fù)層;缺陷層主動(dòng)制造材料位錯(cuò),并釋放底層穿透位錯(cuò),厚度小于50nm,修復(fù)層用于為修復(fù)缺陷層對(duì)材料的影響,重新調(diào)制位錯(cuò)分布及在有源層形成倒六角錐圖形,厚度100nm~300nm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件,其特征在于,第一半導(dǎo)體層(200)為N型半導(dǎo)體,第二半導(dǎo)體層(500)為P型半導(dǎo)體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件,其特征在于,多量子阱結(jié)構(gòu)或多層量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)(302)由多個(gè)單波長(zhǎng)量子阱層或量子點(diǎn)組成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件,其特征在于,多級(jí)調(diào)制結(jié)構(gòu)層為1~3級(jí);電子阻擋層(400)與第一級(jí)調(diào)制結(jié)構(gòu)層形成的倒六角錐圖形在有源層存在交叉的區(qū)域,稱之為第一波長(zhǎng)調(diào)制區(qū)(305),第二級(jí)對(duì)應(yīng)的第二波長(zhǎng)調(diào)制區(qū)(306),第三級(jí)對(duì)應(yīng)第三波長(zhǎng)調(diào)制區(qū);每一波長(zhǎng)調(diào)制區(qū)可調(diào)控的量子阱周期數(shù)為1~8個(gè),不同波長(zhǎng)調(diào)制區(qū)能夠重疊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件,其特征在于,有源層(301)不同波長(zhǎng)量子阱按一定生長(zhǎng)次序,且在小于50nm的波長(zhǎng)范圍,量子阱反復(fù)交叉重現(xiàn)。
6.權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的一種寬光譜半導(dǎo)體有源器件的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1,制作外延結(jié)構(gòu)
外延基底(100)為Si襯底、SiC襯底、ALN襯底、GaN襯底或Sapphire中的一種,采用MOCVD或MBE外延技術(shù),在外延基底(100)上外延生長(zhǎng)所需外延結(jié)構(gòu),包括:第一半導(dǎo)體層(200),厚度為2um~10um,有源層(301),以及第二半導(dǎo)體層(500),厚度為50nm~200nm;
步驟S2,在第二半導(dǎo)體層(500)上制作第二電極(700),第二電極(700)包含反光鏡和鍵合襯底,反光鏡為對(duì)輻射波長(zhǎng)反射材料制成,厚度為150nm~300nm,鍵合襯底為Si襯底或金屬襯底,厚度為100um~300um;
步驟S3,暴露出全部或部分第一半導(dǎo)體層(200),作為制作第一電極(600)的接觸層;
步驟S4,在暴露的第一半導(dǎo)體層(200)的電接觸層位置上制作第一電極(600),采用熱蒸發(fā)或電子束蒸發(fā)方法,制作第一電極(600),第一電極(600)為Al/Au結(jié)構(gòu)、其中Al的厚度為50nm~1um,Au的厚度為0.5um~1.5um。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安交通大學(xué),未經(jīng)西安交通大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910033423.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





