[發明專利]一種大功率激光器測試系統及方法

在審

• 申請號: 201910032480.2
• 申請日: 2019-01-14
• 公開（公告）號: CN109765473A
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發明（設計）人: 柯滔;呂妮娜;曾乾;胡毅;馬衛東
• 申請（專利權）人: 武漢光迅科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 胡琦旖

本發明屬于光器件測試技術領域，公開了一種大功率激光器測試系統及方法，系統包括測試PC、TEC控制電源、泵浦激光器、大功率驅動電流源、1×2光開關、光譜測試組件、光功率測試組件；通過1×2光開關的切換分別形成耦合測試環路與指標測試環路，通過測試PC的控制分別進行耦合測試和指標測試。本發明能夠提高激光器測試效率，提高設備利用率，節約設備及人工成本，并具有良好的通用性。

技術領域

本發明涉及光器件測試技術領域，尤其涉及一種大功率激光器測試系統及方法。

背景技術

在半導體激光器測試領域，激光器的耦合過程中測試是激光器測試的必備場景，而激光器的指標測試也是至關重要的一步步驟，常用的激光器耦合測試與指標測試是將測試設備分別按照耦合測試與指標測試的要求將測試設備串聯連接在一起，形成兩種測試系統。具體的，耦合測試系統中所有的測試設備通過光纖，設備連接線等連接成一個測試站；而指標測試系統使用另一套測試設備通過光纖，設備連接線等連接成一個測試站。例如將大功率激光器的輸出端通過光纖連接到光功率計，就可以測試激光器的耦合測試與PIV測試；而將大功率激光器的輸出端通過光纖連接到光譜儀，就可以測試激光器的光譜等。

在上述兩種測試系統中，老的測試方法是依靠手工一步步調節各個測試設備參數然后手工記錄，而各個測試設備未有機聯接為整套系統，并且所連接測試設備需要經常進行不同測試場景的切換，存在容易出錯、測試設備占用率不高、靈活性不佳的弊端。

發明內容

本申請實施例通過提供一種大功率激光器測試系統及方法，解決了現有技術中激光器耦合測試與指標測試使用兩種獨立的測試系統進行，沒有有機聯接為整套系統，導致測試場景的切換容易出錯、測試設備占用率不高、靈活性不佳的問題。

本申請實施例提供一種大功率激光器測試系統,包括：測試PC、TEC控制電源、泵浦激光器、大功率驅動電流源、1×2光開關、光譜測試組件、光功率測試組件；

所述測試PC分別與所述TEC控制電源、所述大功率驅動電流源、所述1×2光開關、所述光譜測試組件、所述光功率測試組件連接，所述TEC控制電源與所述泵浦激光器連接，所述大功率驅動電流源與所述泵浦激光器連接，所述1×2光開關的輸入端與所述泵浦激光器連接，所述1×2光開關的輸出端分別與所述光功率測試組件、所述光譜測試組件連接。

優選的，所述大功率激光器測試系統還包括：數據庫；所述數據庫與所述測試PC連接。

優選的，所述光譜測試組件包括：光衰減器、光譜儀，所述光功率測試組件包括光功率計；所述1×2光開關的輸出端分別與所述光功率計、所述光衰減器連接，所述光衰減器與所述光譜儀連接。

優選的，所述TEC控制電源設置溫度范圍為-45℃～85℃。

優選的，所述大功率驅動電流源設置輸入電流范圍為0～120A。

利用上述大功率激光器測試系統，本申請實施例提供一種大功率激光器測試方法，通過1×2光開關的切換分別形成耦合測試環路與指標測試環路，通過測試PC的控制分別進行耦合測試和指標測試。

優選的，所述耦合測試包括以下步驟：

S1:測試PC向TEC控制電源發送設置工作溫度命令；

S2:等待工作溫度穩定后，測試PC向大功率驅動電流源發送設置驅動電流命令；

S3:測試PC向1×2光開關發送切換至光功率測試組件光路命令；

S4:測試PC向光功率測試組件發送讀取輸入光功率命令；

S5:分別依序進行“點膠”、“膠固化”、“焊尾管”步驟后重復S1～S4；

S6:得到光功率值后由測試PC進行是否合格判斷，獲得測試結果。