[發(fā)明專利]一種基于二維碼輔助的電磁超聲檢驗(yàn)系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910029583.3
• 申請日: 2019-01-11
• 公開（公告）號(hào): CN109799282B
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 唐亮;張進(jìn);鄧小云;劉彥章;董義令;吳偉幫;李家康;許金才;陳航
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳中廣核工程設(shè)計(jì)有限公司;中廣核工程有限公司;中國廣核集團(tuán)有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N29/04
• 分類號(hào): G01N29/04;G06K17/00
• 代理公司: 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 44217
• 代理人: 蔡曉紅;柯夏荷

1.一種基于二維碼輔助的電磁超聲檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括二維碼載體薄膜、設(shè)置在檢驗(yàn)儀器上的信號(hào)識(shí)別模塊和結(jié)果顯示模塊，其中，

所述二維碼載體薄膜布置在待檢驗(yàn)對象表面，用于對待檢驗(yàn)區(qū)域進(jìn)行區(qū)分和定位；

所述信號(hào)識(shí)別模塊，用于識(shí)別所述二維碼載體薄膜上的二維碼信息，根據(jù)識(shí)別的所述二維碼信息，對所述待檢驗(yàn)區(qū)域的檢驗(yàn)有效性進(jìn)行標(biāo)注；

所述結(jié)果顯示模塊，用于顯示所述待檢驗(yàn)區(qū)域的標(biāo)注結(jié)果；

所述二維碼載體薄膜上標(biāo)記有零點(diǎn)位置，包括在X/Y軸向上依次印制排布的帶有位置信息的多個(gè)二維碼模塊，每個(gè)二維碼模塊對應(yīng)一個(gè)檢驗(yàn)分區(qū)；

所述信號(hào)識(shí)別模塊將已經(jīng)100％檢驗(yàn)的二維碼模塊區(qū)域標(biāo)注為第一顏色，將待檢或未100％檢驗(yàn)的二維碼模塊區(qū)域標(biāo)注為第二顏色；

所述信號(hào)識(shí)別模塊還用于判斷所述檢驗(yàn)儀器的回波信號(hào)是否超過缺陷記錄閾值，如果超過缺陷記錄閾值，則將與該信號(hào)對應(yīng)的二維碼模塊區(qū)域標(biāo)注為第三顏色。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于二維碼輔助的電磁超聲檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，所述二維碼載體薄膜覆蓋固定在待檢驗(yàn)對象的標(biāo)定的零點(diǎn)位置上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于二維碼輔助的電磁超聲檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)二維碼模塊間的間距小于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的每次掃查的路徑應(yīng)覆蓋平行于掃查方向的換能器尺寸的比例范圍。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于二維碼輔助的電磁超聲檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，所述二維碼載體薄膜為耐磨非金屬材料，厚度小于1mm。

5.一種基于二維碼輔助的電磁超聲檢驗(yàn)方法，其特征在于，包括以下步驟：

將用于對待檢驗(yàn)區(qū)域進(jìn)行區(qū)分和定位的二維碼載體薄膜布置在待檢驗(yàn)對象表面；

由設(shè)置在檢驗(yàn)儀器上的信號(hào)識(shí)別模塊識(shí)別所述二維碼載體薄膜上的二維碼信息，根據(jù)識(shí)別的所述二維碼信息，對所述待檢驗(yàn)區(qū)域的檢驗(yàn)有效性進(jìn)行標(biāo)注；

在設(shè)置在檢驗(yàn)儀器上的結(jié)果顯示模塊上顯示所述待檢驗(yàn)區(qū)域的標(biāo)注結(jié)果；

所述信號(hào)識(shí)別模塊將已經(jīng)100％檢驗(yàn)的二維碼模塊區(qū)域標(biāo)注為第一顏色，將待檢或未100％檢驗(yàn)的二維碼模塊區(qū)域標(biāo)注為第二顏色；

還包括：

由所述信號(hào)識(shí)別模塊判斷所述檢驗(yàn)儀器的回波信號(hào)是否超過缺陷記錄閾值，如果超過缺陷記錄閾值，則將與該信號(hào)對應(yīng)的二維碼模塊區(qū)域標(biāo)注為第三顏色。