[發(fā)明專利]一種基于異常關(guān)聯(lián)圖的異常原因診斷方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910021043.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109886292B | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊愷;竇紹瑜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 同濟(jì)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06K9/62 | 分類號(hào): | G06K9/62;G06F17/18 |
| 代理公司: | 上??剖⒅R(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人: | 蔡彭君 |
| 地址: | 200092 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 異常 關(guān)聯(lián) 原因 診斷 方法 | ||
1.一種基于異常關(guān)聯(lián)圖的異常原因診斷方法,其特征在于,所述異常關(guān)聯(lián)圖的建立過(guò)程如下:利用系統(tǒng)的性能指標(biāo)數(shù)據(jù),使用基于圖論的方法建模系統(tǒng)的正常狀態(tài),并在系統(tǒng)實(shí)時(shí)運(yùn)行過(guò)程中,根據(jù)上層異常預(yù)測(cè)組件給出的異常信息,建立系統(tǒng)的異常關(guān)聯(lián)圖;
所述方法包括:
步驟S1:在線收集系統(tǒng)中所有組件的性能指標(biāo)數(shù)據(jù),
步驟S2:選擇一個(gè)未預(yù)診斷組件,判斷是否存在與該組件存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的組件,若為是,則執(zhí)行步驟S3,反之,則執(zhí)行步驟S4,
步驟S3:將這兩個(gè)組件的性能指標(biāo)輸入異常預(yù)測(cè)模塊,并接收異常預(yù)測(cè)模塊返回的預(yù)診斷結(jié)果,若為存在故障,則在異常關(guān)聯(lián)圖中連接這兩個(gè)組件對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn),并執(zhí)行步驟S5,
步驟S4:將該組件的性能指標(biāo)輸入異常預(yù)測(cè)模塊,并接收異常預(yù)測(cè)模塊返回的預(yù)診斷結(jié)果,若為存在故障,則在異常關(guān)聯(lián)圖中連接該組件和一虛擬節(jié)點(diǎn),并執(zhí)行步驟S5,
步驟S5:判斷是否存在未預(yù)診斷組件,若為是,則返回步驟S2,反之,則執(zhí)行步驟S6,
步驟S6:基于異常關(guān)聯(lián)圖診斷得到異常原因;
所述步驟S3具體包括:
步驟S31:根據(jù)兩個(gè)組件之間的自回歸模型計(jì)算出Y的預(yù)測(cè)序列與其真實(shí)值的殘差序列[rt-L-1,rt-L-2,…,rt],
步驟S32:將該殘差序列送入上層異常預(yù)測(cè)模塊中,
步驟S33:接收異常預(yù)測(cè)模塊返回的一個(gè)異常概率pt,
步驟S34:判斷該異常概率是否超過(guò)設(shè)定閾值,若為是,則在異常關(guān)聯(lián)圖中連接這兩個(gè)組件對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn),并執(zhí)行S5;
所述步驟S4具體包括:
步驟S41:將該組件的性能指標(biāo)輸入異常預(yù)測(cè)模塊,
步驟S42:接收異常預(yù)測(cè)模塊返回的一個(gè)異常概率pt,
步驟S43:判斷該異常概率是否超過(guò)設(shè)定閾值,若為是,則在異常關(guān)聯(lián)圖中連接這兩個(gè)組件對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn),并執(zhí)行步驟S5;
所述步驟S6具體包括:
步驟S61:將生成的異常關(guān)聯(lián)圖轉(zhuǎn)換為向量,
步驟S62:對(duì)所有異常圖的向量進(jìn)行聚類,并定義聚類后每一簇的異常原因,
步驟S63:輸出所在簇的異常原因作為診斷結(jié)果;
所述步驟S61具體為:將異常關(guān)聯(lián)圖的每個(gè)節(jié)點(diǎn)的度依次羅列得到該異常關(guān)聯(lián)圖的向量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于異常關(guān)聯(lián)圖的異常原因診斷方法,其特征在于,所述步驟S2具體包括:
步驟S21:選擇一個(gè)未預(yù)診斷組件;
步驟S22:判斷在系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)的圖模型中是否存在與該組件對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的節(jié)點(diǎn),若為是則執(zhí)行步驟S3,反之則執(zhí)行步驟S4。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于異常關(guān)聯(lián)圖的異常原因診斷方法,其特征在于,所述系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)的圖模型的生成過(guò)程包括:
步驟A1:收集各個(gè)系統(tǒng)組件的歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù),并兩兩組合成二元組;
步驟A2:針對(duì)每一個(gè)二元組生成一個(gè)自回歸模型;
步驟A3:選擇一個(gè)未評(píng)估的自回歸模型,并計(jì)算其R均方值;
步驟A4:判斷R均方值是否大于預(yù)設(shè)的均方值上限,若為是,則在系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)的圖模型中連接這兩個(gè)組件對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)以表征這兩個(gè)組件存在關(guān)聯(lián),并執(zhí)行步驟A5;
步驟A5:判斷是否存在未評(píng)估的自回歸模型,若為是,則返回步驟A3。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于異常關(guān)聯(lián)圖的異常原因診斷方法,其特征在于,所述自回歸模型的生成過(guò)程具體包括:
步驟A21:輸入兩個(gè)組件x、y的歷史正常性能指標(biāo)[xt-k,xt-k-1,…,xt-k-m]與[yt,yt-1,…,yt-n],并確定自回歸模型系數(shù):
yt+a1yt-1+…+anyt-n=b0xt-k+b1xt-k-1+…+bmxt-k-m
其中:n,m,k為預(yù)設(shè)的自回歸模型的參數(shù),a1,…,an與b1,…,bm為自回歸模型系數(shù),yt為t時(shí)刻y組件的性能指標(biāo),xt為t時(shí)刻x組件的性能指標(biāo);
步驟A22:確定自回歸模型:
θ=[a1,…,an,b1,…,bm]
其中:θ為要評(píng)估的自回歸模型。
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G06K 數(shù)據(jù)識(shí)別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識(shí)別印刷或書寫字符或者用于識(shí)別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯(cuò)誤的檢測(cè)或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個(gè)筆畫組成的,而且每個(gè)筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無(wú)須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法
- 異常檢測(cè)方法、異常檢測(cè)裝置及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及異常檢測(cè)系統(tǒng)
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