[發明專利]縫洞型碳酸鹽巖儲層產能預測方法及裝置

有效

• 申請號: 201910019721.X
• 申請日: 2019-01-09
• 公開（公告）號: CN111485867B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 李昌;劉國強;趙杰;張審琴;斯春松;沈安江;鄒偉宏;沈揚;田明智
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;E21B49/00;G06Q50/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯;任默聞

本申請公開了一種縫洞型碳酸鹽巖儲層產能預測方法及裝置，該方法包括：獲取目標工區內已挖掘井的儲層厚度、地層巖性、聲波時差曲線、電成像測井圖像和產能；根據地層巖性和聲波時差曲線確定儲層孔隙度；對電成像測井圖像進行處理，得到二值化圖像；確定二值化圖像對應的第一分形維數；利用冪函數處理第一分形維數，得到第二分形維數；根據已挖掘井的儲層厚度、儲層孔隙度、第二分形維數和已挖掘井的產能，建立產能預測模型；利用產能預測模型，預測目標工區內未挖掘井的縫洞型碳酸鹽巖儲層產能。本申請可以提升縫洞型碳酸鹽巖產能預測的準確度。

技術領域

本申請涉及石油勘探技術領域，尤其涉及一種縫洞型碳酸鹽巖儲層產能預測方法及裝置。

背景技術

碳酸鹽層具有較強的非均質性，儲層內部裂縫和溶蝕孔洞發育會影響到儲層的孔隙度、滲透率和產能等。因此，認識和刻畫縫洞特征，對于儲層類型劃分和產能預層具有重要意義。

當油氣開發措施一致時，儲層油氣產能的高低與儲層靜態地質參數，如儲層厚度、含油氣飽和度、孔隙度等有關。因此，通常利用由測井計算的儲層靜態地質參數與產能的相關關系預測產能。對均質性較強的孔洞-孔隙性或孔隙-孔洞型碳酸鹽巖儲層，可以利用儲層孔隙度與厚度的乘積預測產能，且取得了較好的應用效果。然而，對于裂縫發育的碳酸鹽巖儲層，孔隙度值難以反映裂縫及其與孔洞的連通特征，即儲層非均質性的特征，使得該方法對裂縫發育的儲層應用效果較差，預測得到的縫洞型碳酸鹽巖儲層產能的準確度較低。

發明內容

本申請實施例提供一種縫洞型碳酸鹽巖儲層產能預測方法，用以提升縫洞型碳酸鹽巖產能預測的準確度，該方法包括：

獲取目標工區內已挖掘井的儲層厚度、地層巖性、聲波時差曲線、電成像測井圖像和產能；根據地層巖性和聲波時差曲線確定儲層孔隙度；對電成像測井圖像進行處理，得到二值化圖像；確定二值化圖像對應的第一分形維數；利用冪函數處理第一分形維數，得到第二分形維數；根據已挖掘井的儲層厚度、儲層孔隙度、第二分形維數和已挖掘井的產能，建立產能預測模型；利用產能預測模型，預測目標工區內未挖掘井的縫洞型碳酸鹽巖儲層產能。

本申請實施例還提供一種縫洞型碳酸鹽巖儲層產能預測裝置，用以提升縫洞型碳酸鹽巖產能預測的準確度，該裝置包括：

獲取模塊，用于獲取目標工區內已挖掘井的儲層厚度、地層巖性、聲波時差曲線、電成像測井圖像和產能；處理模塊，用于根據獲取模塊獲取的地層巖性和聲波時差曲線確定儲層孔隙度；處理模塊，還用于對獲取模塊獲取的電成像測井圖像進行處理，得到二值化圖像；處理模塊，還用于確定二值化圖像對應的第一分形維數；處理模塊，還用于利用冪函數處理第一分形維數，得到第二分形維數；模型建立模塊，用于根據獲取模塊獲取的已挖掘井的儲層厚度、處理模塊處理得到的儲層孔隙度、第二分形維數和已挖掘井的產能，建立產能預測模型；預測模塊，用于利用模型建立模塊建立的產能預測模型，預測目標工區內未挖掘井的縫洞型碳酸鹽巖儲層產能。

本申請實施例中，引用了反映儲層非均質性特征的分形維數預測產能。具體的，利用電成像測井圖像確定第一分形維數，之后利用冪函數校正第一分形維數，以通過函數差異放大不同儲層類型的分形維數的特征，使得不同儲層類型的分形維數具有較大差異性，并結合儲層孔隙度和儲層厚度確定產能預測模型，有效克服了縫洞的影響，提高了縫洞型碳酸鹽巖產能預測的準確度。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。在附圖中：

圖1為本申請實施例提供的縫洞型碳酸鹽巖儲層產能預測方法的流程圖；

圖2(a)為本申請實施例提供的二值化圖像的示意圖；

圖2(b)為本申請實施例提供的對圖2(a)所示的二值化圖像劃分網格的示意圖；