[發(fā)明專利]觸控傳感器、觸控模組及觸控傳感器裂紋檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910016302.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109739386B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龔慶;牛文驍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F3/041 | 分類號(hào): | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁禮君;闞梓瑄 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 傳感器 模組 裂紋 檢測(cè) 方法 | ||
本公開(kāi)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,提出一種觸控傳感器,所述觸控傳感器上設(shè)置有用于綁定一電路板的綁定區(qū),所述綁定區(qū)設(shè)置有用于檢測(cè)所述觸控傳感器與所述電路板綁定狀態(tài)的至少一個(gè)測(cè)試引腳組;所述測(cè)試引腳組包括兩個(gè)測(cè)試引腳,兩所述測(cè)試引腳通過(guò)短接線短接,所述短接線延伸到所述綁定區(qū)以外。上述的測(cè)試引腳組即可以檢測(cè)觸控傳感器與電路板的綁定狀態(tài),還可以檢測(cè)觸控傳感器綁定區(qū)周邊是否發(fā)生裂紋。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種觸控傳感器、觸控模組及觸控傳感器裂紋檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
觸控模組一般包括觸控傳感器以及設(shè)置有觸控集成電路的電路板,觸控傳感器通常通過(guò)綁定(bonding)技術(shù)與設(shè)置有觸控集成電路的電路板連接。
觸控傳感器與電路板綁定過(guò)程中,觸控傳感器上綁定區(qū)的周圍容易發(fā)生裂紋,觸控傳感器上的裂紋容易導(dǎo)致觸控傳感器邊沿走線斷裂等問(wèn)題,從而引發(fā)觸控傳感器一系列的故障。
相關(guān)技術(shù)中,只能通過(guò)顯微鏡觀察觸控傳感器綁定區(qū)的周圍是否出現(xiàn)裂紋,該檢測(cè)方法費(fèi)時(shí)費(fèi)力且檢測(cè)精度不高。
需要說(shuō)明的是,在上述背景技術(shù)部分公開(kāi)的信息僅用于加強(qiáng)對(duì)本公開(kāi)的背景的理解,因此可以包括不構(gòu)成對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
發(fā)明內(nèi)容
本公開(kāi)的目的在于提供一種觸控傳感器、觸控模組及觸控傳感器裂紋檢測(cè)方法,進(jìn)而至少在一定程度上克服相關(guān)技術(shù)中,檢測(cè)觸控傳感器裂紋費(fèi)時(shí)費(fèi)力且檢測(cè)精度不高的技術(shù)問(wèn)題。
根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)方面,提供一種觸控傳感器,所述觸控傳感器上設(shè)置有用于綁定一電路板的綁定區(qū),所述綁定區(qū)設(shè)置有用于檢測(cè)所述觸控傳感器與所述電路板綁定狀態(tài)的至少一個(gè)測(cè)試引腳組;所述測(cè)試引腳組包括兩個(gè)測(cè)試引腳,兩所述測(cè)試引腳通過(guò)短接線短接,所述短接線延伸到所述綁定區(qū)以外。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述觸控傳感器貼合于一基板,所述基板上開(kāi)設(shè)有一開(kāi)槽區(qū),所述綁定區(qū)形成于所述開(kāi)槽區(qū)內(nèi),所述觸控傳感器位于開(kāi)槽區(qū)以內(nèi)及綁定區(qū)以外的位置形成異形開(kāi)槽區(qū),所述短接線穿過(guò)所述異形開(kāi)槽區(qū)延伸至所述觸控傳感器與所述基板的貼合區(qū)。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述測(cè)試引腳組包括:第一測(cè)試引腳組和第二測(cè)試引腳組。第一測(cè)試引腳組設(shè)置于所述綁定區(qū)的第一側(cè),包括兩個(gè)第一測(cè)試引腳,兩所述第一測(cè)試引腳通過(guò)第一短接線短接,所述第一短接線延伸到所述觸控傳感器與所述基板的貼合區(qū);第二測(cè)試引腳組設(shè)置于所述綁定區(qū)的與所述第一側(cè)相對(duì)的第二側(cè),所述第二測(cè)試引腳組包括兩個(gè)第二測(cè)試引腳,兩所述第二測(cè)試引腳通過(guò)第二短接線短接,所述第二短接線延伸到所述觸控傳感器與所述基板的貼合區(qū)。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述觸控傳感器包括圍繞顯示區(qū)的邊沿區(qū),所述第一短接線和所述第二短接線沿所述邊沿區(qū)延伸。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述第一短接線沿所述開(kāi)槽區(qū)內(nèi)所述邊沿走線的延伸方向延伸到所述異形開(kāi)槽區(qū),且沿所述綁定區(qū)第一側(cè)的方向延伸到所述觸控傳感器與所述基板的貼合區(qū)。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述第二短接線沿所述開(kāi)槽區(qū)內(nèi)所述邊沿走線的延伸方向延伸到所述異形開(kāi)槽區(qū),且沿所述綁定區(qū)第二側(cè)的方向延伸到所述觸控傳感器與所述基板的貼合區(qū)。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述第一短接線和所述第二短接線延伸到整個(gè)所述邊沿區(qū)。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施例中,所述基板為偏光片。
根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)方面,提供一種觸控模組,該觸控模組包括上述的觸控傳感器以及設(shè)置有觸控集成電路的電路板,所述電路板綁定在所述觸控傳感器上;所述電路板的綁定區(qū)設(shè)置有至少一個(gè)測(cè)試引腳組,所述測(cè)試引腳組包括兩個(gè)測(cè)試引腳;所述電路板與所述觸控傳感器綁定時(shí),所述觸控傳感器的兩個(gè)檢測(cè)引腳與所述電路板的連個(gè)檢測(cè)引腳分別正對(duì)。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
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G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
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