[發明專利]圖像像素校正方法及系統有效
| 申請號: | 201910011837.9 | 申請日: | 2019-01-07 |
| 公開(公告)號: | CN109697957B | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發明(設計)人: | 馮彬峰;李奇峰;羅永輝;李飛;劉穎;王超;陳禹鵬 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3225 | 分類號: | G09G3/3225 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 像素 校正 方法 系統 | ||
本發明實施例公開一種圖像像素校正方法及系統,涉及3D顯示技術領域,用于提升3D顯示面板的顯示效果。所述圖像像素校正方法包括:獲取所述3D顯示面板中各像素點的位置信息,所述位置信息包括景深坐標;根據各所述像素點的景深坐標,獲取各所述像素點對應的景深補償系數;根據各所述景深補償系數,對所述3D顯示面板的圖像像素校正算法進行修正;根據修正后的圖像像素校正算法,對所述3D顯示面板中各像素點進行圖像像素校正。本發明實施例提供的圖像像素校正方法及系統用于3D?AMOLED顯示面板的De?mura補償。
技術領域
本發明涉及3D顯示技術領域,尤其涉及一種圖像像素校正方法及系統。
背景技術
隨著顯示技術的發展,有源矩陣有機發光二極體(Active-matrix organic lightemitting diode,簡稱AMOLED)顯示面板因其輕薄、色彩鮮艷、對比度高等優勢,被業界公認為是最具有發展潛力的顯示面板之一。但是,AMOLED顯示面板容易因其制作過程中生產工藝水平的限制,以及生產原材料純度的影響,在顯示時出現顯示不均勻的現象,也就是俗稱的Mura。
目前,為了確保AMOLED顯示面板的顯示效果,通常需要在AMOLED顯示面板的制作過程中,對AMOLED顯示面板進行Mura識別,并在識別到Mura后通過補償AMOLED顯示面板中圖像像素顯示數據的方式,消除AMOLED顯示面板的Mura,對AMOLED顯示面板中的圖像像素進行校正,俗稱De-Mura。
然而,當AMOLED顯示面板用于三維立體(Three Dimensions,簡稱3D)顯示時,對應3D-AMOLED顯示面板的邊緣區域一般呈曲面設置,不利于對3D-AMOLED顯示面板進行準確的Mura識別,也難以確保3D-AMOLED顯示面板的像素校正能夠有效完成,導致3D-AMOLED顯示面板的邊緣區域容易在顯示時出現亮度不均、色度偏紅等問題,對3D-AMOLED顯示面板的顯示效果產生不良影響。
發明內容
本發明實施例的目的在于提供一種像素校正方法及系統,用于提升3D顯示面板的顯示效果以及生產良率。
為了實現上述目的,本發明實施例提供如下技術方案:
本發明實施例的第一方面提供一種圖像像素校正方法,應用于3D顯示面板。該圖像像素校正方法包括:獲取3D顯示面板中各像素點的位置信息,所述位置信息包括景深坐標;根據各像素點的景深坐標,獲取各像素點對應的景深補償系數;根據各景深補償系數對3D顯示面板的圖像像素校正算法進行修正;根據修正后的圖像像素校正算法對3D顯示面板中的各像素點進行圖像像素校正。
可選的,在獲取3D顯示面板中各像素點的位置信息之前,上述圖像像素校正方法還包括:獲取3D顯示面板中各像素點的原始亮度數據和目標亮度數據。上述根據各像素點的景深坐標,獲取各像素點對應的景深補償系數的步驟,包括:根據每一個像素點對應的景深坐標、原始亮度數據以及目標亮度數據,分別確定各像素點對應的景深補償系數。
可選的,各像素點具有至少兩種不同的顏色;上述獲取3D顯示面板中各像素點的位置信息的步驟,包括:按照每個像素點的顏色,將具有相同顏色的各像素點劃分為一類像素點;根據各像素點的顏色種類,分別獲取每一類像素點的位置信息。
進一步的,上述根據各景深補償系數,對3D顯示面板的圖像像素校正算法進行修正,并根據修正后的圖像像素校正算法,對3D顯示面板中的各像素點進行圖像像素校正的步驟,包括:按照各像素點的顏色種類,分別根據每一類像素點對應的各景深補償系數,對3D顯示面板的圖像像素校正算法進行修正;根據修正后的圖像像素校正算法,對3D顯示面板中的每一類像素點進行圖像像素校正。
可選的,上述圖像像素校正算法,包括圖像像素校正函數:L=aL’+bc;其中,L為3D顯示面板圖像像素校正后的目標亮度數據,L’為3D顯示面板圖像像素校正前的原始亮度數據,a為增益補償系數,b為偏移補償系數,c為景深補償系數。
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