[發明專利]存儲芯片SUBROM檢測方法及檢測器

在審

• 申請號: 201910003136.0
• 申請日: 2019-01-02
• 公開（公告）號: CN109741785A
• 公開（公告）日: 2019-05-10
• 發明（設計）人: 李強;楊治學;郭偉;顏培玉;李文冠
• 申請（專利權）人: 盛瑞傳動股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 崔振

1.一種存儲芯片SUBROM檢測方法，其特征在于，包括：

接收到檢測啟動指令時，向SUBROM寫入第一字符串；

根據預設時間間隔，對所述SUBROM執行所述第一字符串的讀操作，得到第二字符串；

根據所述第一字符串和所述第二字符串確定檢測結果；

根據所述檢測結果對應的輸出引腳，輸出所述檢測結果。

2.根據權利要求1所述的存儲芯片SUBROM檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一字符串和所述第二字符串確定檢測結果，包括：

如果所述第一字符串與所述第二字符串相同，則檢測結果為合格；

相應的，所述根據所述檢測結果對應的輸出引腳，輸出所述檢測結果，包括：

當檢測結果為合格時，通過第一輸出引腳輸出所述檢測結果，所述第一輸出引腳用于以第一顯示方式的指示燈反饋檢測結果。

3.根據權利要求2所述的存儲芯片SUBROM檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一字符串和所述第二字符串確定檢測結果，包括：

S1、如果所述第一字符串與所述第二字符串不同，則啟動計數操作，得到計數結果，所述計數操作包括每寫入一個字符串所述計數結果加1；

S2、向所述SUBROM寫入第三字符串；根據所述預設時間間隔，對所述SUBROM執行所述第三字符串的讀操作，得到第四字符串；

S3、如果所述第三字符串與所述第四字符串相同，則檢測結果為合格；

S4、如果所述第三字符串與所述第四字符串不同，則判斷所述計數結果是否大于預設計數閾值；

S5、如果所述計數結果大于預設計數閾值，則檢測結果為不合格；相應的，所述根據所述檢測結果對應的輸出引腳，輸出所述檢測結果，包括：當檢測結果為不合格時，通過第二輸出引腳輸出所述檢測結果，所述第二輸出引腳用于以第二顯示方式的指示燈反饋檢測結果；

S6、如果計數結果小于預設計數閾值，則所述計數結果加1，返回執行步驟S2；直至所述第三字符串與所述第四字符串相同，或所述計數結果大于所述預設計數閾值。

4.根據權利要求3所述的存儲芯片SUBROM檢測方法，其特征在于，所述如果計數結果小于預設計數閾值，則所述計數結果加1，返回執行步驟S2，包括：

如果所述計數結果小于預設計數閾值，則所述計數結果加1；

根據第五字符串確定新的第三字符串，返回執行步驟S2。

5.一種存儲芯片SUBROM檢測器，其特征在于，包括：控制單元主體、合格反饋模塊、不合格反饋模塊、測試控制開關；所述控制單元主體包括測試輸入引腳、第一輸出引腳、第二輸出引腳、讀寫數據引腳；

所述控制單元主體的所述測試輸入引腳連接所述測試控制開關，所述測試控制開關用于輸入檢測啟動指令；

所述控制單元主體的所述第一輸出引腳連接所述合格反饋模塊；

所述控制單元主體的所述第二輸出引腳連接所述不合格反饋模塊；

所述控制單元主體的所述讀寫數據引腳連接所述SUBROM，所述讀寫數據引腳用于對所述SUBROM寫入或讀出數據。

6.根據權利要求5所述的SUBROM檢測器，其特征在于，所述合格反饋模塊包括第一繼電器和第一顯示方式的第一指示燈。

7.根據權利要求5所述的SUBROM檢測器，其特征在于，所述不合格反饋模塊包括第二繼電器和第二顯示方式的第二指示燈。

8.根據權利要求5-7中任一項所述的SUBROM檢測器，其特征在于，所述控制單元主體還包括至少一組上位機通信引腳，所述至少一組上位機通信引腳與上位機連接。

9.根據權利要求8所述的SUBROM檢測器，其特征在于，所述控制單元主體還包括電源引腳，所述電源引腳連接外置電源。

10.一種具有處理器可執行的非易失的程序代碼的計算機可讀介質，其特征在于，所述程序代碼使所述處理器執行所述權利要求1-4任一項所述的方法的步驟。