[發(fā)明專利]使用結(jié)構(gòu)照明的有源傳感器檢測器的多路復(fù)用有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910002720.4 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110018140B | 公開(公告)日: | 2022-03-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 托馬斯·貝克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 伊魯米那股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262 | 代理人: | 王紅英;楊明釗 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 結(jié)構(gòu) 照明 有源 傳感器 檢測器 多路復(fù)用 | ||
本公開涉及但不限于使用結(jié)構(gòu)照明的有源傳感器檢測器的多路復(fù)用。本公開提供一種結(jié)構(gòu)照明成像系統(tǒng),其利用在圖案化樣本的有源平面中的圖像傳感器(例如有源像素傳感器)來提高圖像分辨率。所成像的樣本可以被圖案化和/或排列在圖像傳感器上,使得圖像傳感器的每個(gè)光傳感器(例如像素)具有在其上方形成和/或安裝的相應(yīng)的多個(gè)特征。響應(yīng)于照射,每個(gè)特征可以發(fā)射由圖像傳感器的像素收集的熒光。在成像期間,圖像傳感器的每個(gè)像素可以使用結(jié)構(gòu)照明在空間上被多路復(fù)用,使得只有被排列在像素上的特征的子集(例如,一個(gè)或兩個(gè))在圖像讀取期間用結(jié)構(gòu)化光進(jìn)行照射。
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)要求于2018年1月8日提交的且標(biāo)題為“Multiplexing of an ActiveSensor Detector using Structured Illumination”的美國臨時(shí)專利申請(qǐng)第62/614,690號(hào)和于2018年3月20日提交的且標(biāo)題為“Multiplexing of an Active Sensor Detectorusing Structured Illumination”的荷蘭專利申請(qǐng)第N2020621號(hào)的優(yōu)先權(quán)。每個(gè)前面提到的申請(qǐng)的全部內(nèi)容在此通過引用被并入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及,但不限于使用結(jié)構(gòu)照明的有源傳感器檢測器的多路復(fù)用。
背景技術(shù)
在顯微成像中,顯微鏡的橫向分辨率通常受到由光源的波長和顯微鏡的物鏡的數(shù)值孔徑確定的衍射極限的限制。例如,有源傳感器成像技術(shù)(例如互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)成像技術(shù))的一個(gè)限制是最終間距(ultimate pitch),且因此信息的數(shù)據(jù)密度受到傳感器系統(tǒng)的間距的限制,在高端系統(tǒng)中間距可以在大約1μm和1.75μm之間。這種限制可能將持續(xù),因?yàn)閷?duì)較小像素的處理由于制造約束而是復(fù)雜的。
在利用電荷耦合器件(CCD)成像傳感器的一些傳統(tǒng)顯微成像系統(tǒng)中,空間結(jié)構(gòu)化(即圖案化)光可用于對(duì)樣本成像,以將顯微鏡的橫向分辨率增加兩倍或更多倍。在這樣的系統(tǒng)中,在樣本的成像期間,可以在各種圖案相位(例如0°、120°、和240°)獲取樣本的條紋圖案的三個(gè)圖像,使得樣本上的每個(gè)位置被暴露于一定范圍的照明強(qiáng)度,該過程通過圍繞光軸旋轉(zhuǎn)圖案定向(例如60°和120°)來重復(fù)。所捕獲的圖像(例如九個(gè)圖像)可以被組合成具有擴(kuò)展空間頻率帶寬的單個(gè)圖像,該單個(gè)圖像可以被再轉(zhuǎn)換到真實(shí)空間中,以生成相比于由傳統(tǒng)顯微鏡捕獲的圖像具有更高分辨率的圖像。在這些傳統(tǒng)系統(tǒng)中,由結(jié)構(gòu)照明顯微術(shù)(structured illumination microscopy)對(duì)分子的檢測依賴于重新收集激發(fā)光(通常利用用于激發(fā)的相同物鏡)并將發(fā)射信號(hào)重新成像到CCD相機(jī)上。
發(fā)明內(nèi)容
本文所述的實(shí)現(xiàn)方式針對(duì)一種結(jié)構(gòu)照明成像系統(tǒng),其利用在圖案化樣本的有源平面(active plane)中的圖像傳感器(例如有源像素傳感器)來提高圖像分辨率。所成像的樣本可以被圖案化和/或被排列在圖像傳感器上,使得圖像傳感器的每個(gè)像素具有在其上方形成的和/或安裝的(mounted)相應(yīng)的多個(gè)特征。
在一個(gè)實(shí)現(xiàn)方式中,一種系統(tǒng)包括:發(fā)射光的光發(fā)射器;使由光發(fā)射器發(fā)射的光衍射以在包括圖案化特征的樣本的平面上投射多個(gè)條紋的光學(xué)元件;以及收集由樣本的特征發(fā)射的光的圖像傳感器。在該實(shí)現(xiàn)方式中,圖像傳感器包括多個(gè)像素,樣本將被排列在圖像傳感器上,使得多個(gè)圖案化特征沿著第一軸被排列在多個(gè)像素中的每個(gè)相應(yīng)像素上,并且所投射的多個(gè)條紋被成形為照射每個(gè)相應(yīng)的多個(gè)圖案化特征中的特征之一。在各種實(shí)現(xiàn)方式中,所投射的多個(gè)條紋具有與規(guī)則圖案化特征的尺寸至少幾乎相同或比規(guī)則圖案化特征的尺寸大的條紋寬度,并且條紋寬度小于多個(gè)像素中的每一個(gè)像素的間距。例如,規(guī)則圖案化特征的尺寸可以是圓形特征的直徑、正方形特征的邊的長度、矩形特征的較長邊或較短邊的長度、橢圓形特征沿著其長軸或短軸的直徑、或者不規(guī)則成形的對(duì)象沿著對(duì)象的一個(gè)軸(例如x軸或y軸)的最長尺寸。
在實(shí)現(xiàn)方式中,圖像傳感器是有源像素圖像傳感器,例如互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)圖像傳感器。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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