[發(fā)明專利]一種測(cè)試SSD可靠性的方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910002189.0
• 申請(qǐng)日: 2019-01-02
• 公開（公告）號(hào): CN109815086A
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊永峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/30
• 分類號(hào): G06F11/30
• 代理公司: 濟(jì)南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205
• 代理人: 劉雪萍

一種測(cè)試SSD可靠性的方法及系統(tǒng)，包括如下步驟：?jiǎn)?dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控；獲取監(jiān)控點(diǎn)的監(jiān)控信息；對(duì)監(jiān)控信息進(jìn)行檢測(cè)并將檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)保存測(cè)試日志進(jìn)行輸出。步驟啟動(dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控之前，包括：清除當(dāng)前測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)日志；對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行重啟。步驟啟動(dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控中，所述的監(jiān)控點(diǎn)包括寄存器狀態(tài)，該方法包括：?jiǎn)?dòng)第一監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控寄存器狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控，其中包括：對(duì)UESta、CESta的狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控；獲取UESta、CESta寄存器的狀態(tài)位信息；對(duì)獲取的UESta、CESta寄存器的狀態(tài)位信息進(jìn)行檢測(cè)并將檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)保存測(cè)試日志進(jìn)行輸出。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及硬盤測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種測(cè)試SSD可靠性的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在現(xiàn)有的硬盤測(cè)試項(xiàng)目中，新增Aliflash V3open channel SSD測(cè)試，這是一款open channel SSD,屬于OCS模式，而非標(biāo)準(zhǔn)的NVME，需要單獨(dú)打驅(qū)動(dòng)，在系統(tǒng)下才能識(shí)別，傳統(tǒng)的NVME模式的測(cè)試已經(jīng)不適應(yīng)這塊open channel SSD，測(cè)試過程中除了對(duì)SSD功能測(cè)試外，還需要對(duì)SSD可靠性進(jìn)行測(cè)試。這就需要設(shè)計(jì)一種方法快速有效的測(cè)試SSD的可靠性。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本發(fā)明提供一種測(cè)試SSD可靠性的方法及系統(tǒng)，以解決上述技術(shù)問題。

本發(fā)明的技術(shù)方案是：

一種測(cè)試SSD可靠性的方法，包括如下步驟：

啟動(dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控；

獲取監(jiān)控點(diǎn)的監(jiān)控信息；

對(duì)監(jiān)控信息進(jìn)行檢測(cè)并將檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)保存測(cè)試日志進(jìn)行輸出。

優(yōu)選地，步驟啟動(dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控之前，包括：

清除當(dāng)前測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)日志；

對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行重啟。

優(yōu)選地，步驟啟動(dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控中，所述的監(jiān)控點(diǎn)包括寄存器狀態(tài)，該方法包括：

啟動(dòng)第一監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控寄存器狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控，其中包括：

對(duì)UESta、CESta的狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控；

獲取UESta、CESta寄存器的狀態(tài)位信息；

對(duì)獲取的UESta、CESta寄存器的狀態(tài)位信息進(jìn)行檢測(cè)并將檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)保存測(cè)試日志進(jìn)行輸出。

優(yōu)選地，步驟啟動(dòng)監(jiān)控模塊對(duì)監(jiān)控點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控中，所述的監(jiān)控點(diǎn)包括SMART日志信息，該方法包括：

啟動(dòng)第二監(jiān)控模塊對(duì)SMART日志進(jìn)行監(jiān)控，其中包括：

對(duì)SMART日志信息中硬盤的media error、critical_warning關(guān)鍵字段進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控；

獲取media error、critical_warning關(guān)鍵字段的狀態(tài)位信息；

對(duì)media error、critical_warning關(guān)鍵字段狀態(tài)位信息進(jìn)行檢測(cè)并將檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)保存測(cè)試日志進(jìn)行輸出。

優(yōu)選地，該方法還包括：

測(cè)試到達(dá)設(shè)定閾值次數(shù)時(shí)，測(cè)試人員查看保存的測(cè)試日志判斷SSD的可靠性，其中，

若UESta和CESta兩個(gè)PCIE寄存器中，除狀態(tài)位NonfatalErr之外，其他狀態(tài)位均不為+，SMART日志信息中硬盤的media error、critical_warning統(tǒng)計(jì)為0的狀態(tài)則判定SSD的可靠性。