[發(fā)明專(zhuān)利]飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法、裝置、飛針測(cè)試機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910002117.6
• 申請(qǐng)日: 2019-01-02
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109738789B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 歐陽(yáng)云軒;王星;翟學(xué)濤;楊朝輝;高云峰
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳市大族數(shù)控科技股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 何鋒

本發(fā)明涉及一種飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法，包括以下步驟：接收對(duì)PCB板進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試指令，所述PCB板上包括多個(gè)子PCB板，所述PCB板放置在飛針測(cè)試機(jī)的測(cè)試區(qū)域；響應(yīng)所述測(cè)試指令，根據(jù)所述PCB板中子PCB板的排布信息將所述PCB板劃分為多個(gè)子區(qū)域，其中，所述子區(qū)域包括至少兩個(gè)子PCB板；以子區(qū)域作為一個(gè)對(duì)位單位，確定各個(gè)所述子區(qū)域中的子PCB板對(duì)應(yīng)的對(duì)位點(diǎn)位置信息；根據(jù)當(dāng)前子PCB板的對(duì)位點(diǎn)位置信息對(duì)所述當(dāng)前子PCB板進(jìn)行對(duì)位，根據(jù)對(duì)位結(jié)果對(duì)所述當(dāng)前子PCB板進(jìn)行測(cè)試，采用本發(fā)明實(shí)施例提供的方法，對(duì)PCB板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試精度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及飛針測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法、裝置、飛針測(cè)試機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

多軸飛針測(cè)試機(jī)是用于測(cè)試PCB板的測(cè)試設(shè)備，由正反兩面的四個(gè)探針組成，在實(shí)際測(cè)試中，四個(gè)探針在驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)下能夠在X-Y軸上獨(dú)立的移動(dòng)，待測(cè)試的印制電路板(PCB)由夾具夾持在設(shè)備的中間，利用驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試軸移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)探針相對(duì)印制電路板的三維運(yùn)動(dòng)，并且在探針接觸到測(cè)試點(diǎn)時(shí)，電測(cè)板卡通過(guò)給探針施加一定的電流，得到不同的測(cè)試信號(hào)，從而判斷待測(cè)PCB板網(wǎng)絡(luò)的通斷情況。

現(xiàn)在電子產(chǎn)品日益向小型化、高集成、高性能的趨勢(shì)發(fā)展，電子元器件的體積也越來(lái)越小，密度越來(lái)越高。作為元器件互聯(lián)載體的印制板，其密度和芯片的密度是息息相關(guān)的，因此PCB板也朝著高密度，小型化發(fā)展。而飛針測(cè)試設(shè)備剛好具有精度高、不受網(wǎng)格限制、測(cè)試靈活、速度快、誤報(bào)率低等特點(diǎn)被越來(lái)越多的印制板廠應(yīng)用到生產(chǎn)中。

目前，在利用飛針測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常需要獲取固定位置例如PCB板的對(duì)位點(diǎn)進(jìn)行對(duì)位，以確定PCB板的位置和方向，然而，選取的對(duì)位點(diǎn)是固定的對(duì)位點(diǎn)，對(duì)位效果差。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)對(duì)位效果差的問(wèn)題，提供一種飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法、裝置、飛針測(cè)試機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

在一方面，一種飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法，包括以下步驟：接收對(duì)PCB板進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試指令，所述PCB板上包括多個(gè)子PCB板，所述PCB板放置在飛針測(cè)試機(jī)的測(cè)試區(qū)域；響應(yīng)所述測(cè)試指令，根據(jù)所述PCB板中子PCB板的排布信息將所述PCB板劃分為多個(gè)子區(qū)域，其中，所述子區(qū)域包括至少兩個(gè)子PCB板；以子區(qū)域作為一個(gè)對(duì)位單位，確定各個(gè)所述子區(qū)域中的子PCB板對(duì)應(yīng)的對(duì)位點(diǎn)位置信息；根據(jù)當(dāng)前子PCB板的對(duì)位點(diǎn)位置信息對(duì)所述當(dāng)前子PCB板進(jìn)行對(duì)位，根據(jù)對(duì)位結(jié)果對(duì)所述當(dāng)前子PCB板進(jìn)行測(cè)試。

再一方面，一種飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試裝置，包括：測(cè)試指令接收模塊，用于接收對(duì)PCB板進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試指令，所述PCB板上包括多個(gè)子PCB板，所述PCB板放置在飛針測(cè)試機(jī)的測(cè)試區(qū)域；劃分模塊，用于響應(yīng)所述測(cè)試指令，根據(jù)所述PCB板中子PCB板的排布信息將所述PCB板劃分為多個(gè)子區(qū)域，其中，所述子區(qū)域包括至少兩個(gè)子PCB板；對(duì)位點(diǎn)位置信息確定模塊，用于以子區(qū)域作為一個(gè)對(duì)位單位，確定各個(gè)所述子區(qū)域中的子PCB板對(duì)應(yīng)的對(duì)位點(diǎn)位置信息；測(cè)試模塊，用于根據(jù)當(dāng)前子PCB板的對(duì)位點(diǎn)位置信息對(duì)所述當(dāng)前子PCB板進(jìn)行對(duì)位，根據(jù)對(duì)位結(jié)果對(duì)所述當(dāng)前子PCB板進(jìn)行測(cè)試。

再一方面，本發(fā)明還提供一種飛針測(cè)試機(jī)，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述處理器執(zhí)行上述飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法的步驟。

又一方面，本發(fā)明還提供一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀指令的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀指令被一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，使得一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行上述飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法的步驟。

本發(fā)明的飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試方法，對(duì)于排布有多個(gè)子PCB板的PCB板，能夠靈活根據(jù)子PCB板的排布信息將PCB板分為多個(gè)區(qū)域，而且子區(qū)域中包括至少兩個(gè)子PCB板，這樣，在選取對(duì)位點(diǎn)時(shí)，是以多個(gè)子PCB板作為一個(gè)對(duì)位單位來(lái)確定子PCB板的對(duì)位點(diǎn)的，因此對(duì)位點(diǎn)選取效率高，而且，子區(qū)域中的各個(gè)PCB板存在對(duì)位點(diǎn)，因此對(duì)PCB板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試精度高。

附圖說(shuō)明