[發明專利]三維存儲器及其制造方法有效
| 申請號: | 201910001509.0 | 申請日: | 2019-01-02 |
| 公開(公告)號: | CN109742077B | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發明(設計)人: | 張中;華文宇;李艷妮 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L27/11524 | 分類號: | H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 駱希聰 |
| 地址: | 430205 湖北省武漢市洪山區東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 三維 存儲器 及其 制造 方法 | ||
1.一種三維存儲器,具有核心區和階梯區,所述階梯區具有鄰近所述核心區的頂部選擇區,所述頂部選擇區具有最靠近所述核心區的第一階梯,其中所述第一階梯在所述三維存儲器的延伸面上的投影圖形具有多個角,所述多個角中的至少一個是倒角。
2.如權利要求1所述的三維存儲器,其特征在于,所述倒角是倒直角、倒圓角或者對倒直角再進行一次或多次倒角處理得到的倒角。
3.如權利要求1所述的三維存儲器,其特征在于,所述第一階梯的所述投影圖形具有兩個角,分別位于所述第一階梯的兩端。
4.如權利要求1或2所述的三維存儲器,其特征在于,所述頂部選擇區包括位于所述核心區的相對兩側的第一頂部選擇區和第二頂部選擇區,所述第一頂部選擇區和所述第二頂部選擇區分別具有所述第一階梯。
5.如權利要求1所述的三維存儲器,其特征在于,所述頂部選擇區中所述第一階梯以外的各個階梯在所述三維存儲器的延伸面上的投影圖形的角為直角。
6.如權利要求1所述的三維存儲器,其特征在于,所述三維存儲器為3D NAND閃存。
7.一種光掩模,包括用于制造三維存儲器的階梯區中的頂部選擇區的掩模圖案,所述掩模圖案具有多個角,用于形成所述頂部選擇區中最靠近所述三維存儲器的核心區的第一階梯,其中所述多個角中的至少一個是倒角。
8.如權利要求7所述的光掩模,其特征在于,所述倒角是倒直角、倒圓角或者對倒直角再進行一次或多次倒角處理得到的倒角。
9.一種三維存儲器的制造方法,包括以下步驟:
提供半導體結構,所述半導體結構具有核心區和階梯區,所述階梯區具有鄰近所述核心區的頂部選擇區;
在所述頂部選擇區形成最靠近所述核心區的第一階梯,所述第一階梯在所述半導體結構的延伸面上的投影圖形具有多個角,所述多個角中的至少一個是倒角。
10.如權利要求9所述的三維存儲器的制造方法,其特征在于,所述倒角是倒直角、倒圓角或者對倒直角再進行一次或多次倒角處理得到的倒角。
11.如權利要求9所述的三維存儲器的制造方法,其特征在于,所述第一階梯的所述投影圖形具有兩個角,分別位于所述第一階梯的兩端。
12.如權利要求9或10所述的三維存儲器的制造方法,其特征在于,所述頂部選擇區包括位于所述核心區的相對兩側的第一頂部選擇區和第二頂部選擇區,其中在所述第一頂部選擇區和所述第二頂部選擇區分別形成所述第一階梯。
13.如權利要求9所述的三維存儲器的制造方法,其特征在于,還包括:
在所述頂部選擇區形成所述第一階梯以外的各個階梯,其中各個階梯在所述三維存儲器的延伸面上的投影圖形的角為直角。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





