[發明專利]四極質量分析裝置

在審

• 申請號: 201880097149.2
• 申請日: 2018-09-06
• 公開（公告）號: CN112640034A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 西口克
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42
• 代理公司: 上海立群專利代理事務所(普通合伙) 31291
• 代理人: 楊楷;毛立群

1.一種四極質量分析裝置，其特征在于，具備：

四極濾質器，圍繞中心軸配置有4根桿電極；

磁體，在所述四極濾質器的內部的至少一部分形成與所述中心軸交叉的方向的磁場。

2.如權利要求1所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

所述磁體在從所述四極濾質器的入射端到長度方向的中間之間的至少一部分形成所述磁場。

3.如權利要求1所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

在所述四極濾質器的后級具備碰撞池及第2四極濾質器。

4.如權利要求3所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

具有第2磁體，在所述第2四極濾質器的內部形成與所述第2四極濾質器的中心軸交叉的方向的磁場。

5.如權利要求1所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

在所述四極濾質器的后級進一步具備飛行管。

6.如權利要求1～5的任一項所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

具備將由載氣輸送的分析對象離子化的氣體試樣離子化裝置。

7.如權利要求1～5的任一項所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

具備將由載液輸送的分析對象離子化的液體試樣離子化裝置。

8.如權利要求1～4的任一項所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

具備電感耦合等離子體離子化裝置。

9.如權利要求1～5的任一項所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

所述磁體為電磁體，

四極質量分析裝置具有電流控制部，控制供給至所述電磁體的電流。

10.如權利要求9所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

所述電流控制部根據分析對象離子的質荷比來設定供給至所述電磁體的電流的量。

11.如權利要求10所述的四極質量分析裝置，其特征在于，

所述分析對象離子的質荷比越高，所述電流控制部將流向所述電磁體的電流的量設定得越大。