[發(fā)明專利]輻射探測器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880096883.7 | 申請日： | 2018-09-07 |
| 公開（公告）號： | CN112601981B | 公開（公告）日： | 2023-07-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 曹培炎;劉雨潤 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳幀觀德芯科技有限公司 |
| 主分類號： | G01T1/00 | 分類號： | G01T1/00 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人： | 衛(wèi)李賢;曹正建 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)招商街道沿山*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 輻射 探測器 | ||
本發(fā)明公開了一種探測器(100)，包括：包括第一子像素(151A)和第二子像素(151B)的像素(150)，其中第一子像素(151A)被配置為在暴光于輻射時產(chǎn)生第一電信號，并且其中第二子像素(151B)被配置為在暴光于輻射時產(chǎn)生第二電信號；其中所述探測器被配置為在第一時間周期內(nèi)基于第一電信號來確定入射在第一子像素(151A)上的輻射的粒子數(shù)量；其中所述探測器被配置為通過在第二時間周期內(nèi)積分第二電信號來確定輻射的強度。
【技術(shù)領(lǐng)域】
本文的公開內(nèi)容涉及輻射探測器。
【背景技術(shù)】
輻射探測器可以是用于測量輻射通量、空間分布、光譜或其它輻射特性的器件。輻射探測器可用于多種應(yīng)用。一種重要的應(yīng)用是成像。輻射成像是一種射線照相技術(shù)，可用于顯示諸如人體的非均勻組成的不透明物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
早期用于成像的輻射探測器包括照相板和照相膠片。照相板可以是具有光敏乳劑涂層的玻璃板。雖然照相板被照相膠片所代替，由于它們(照相板)可提供較好的質(zhì)量以及有極好的穩(wěn)定性，在特殊情況下它們?nèi)匀豢赡鼙皇褂?。照相膠片可以是具有光敏乳劑涂層的塑料膜(例如，帶或片)。
在1980年代，光激發(fā)磷光板(PSP板)變?yōu)榭捎?。PSP板可以在其晶格中包含具有色心的磷光體材料。當(dāng)PSP板暴露于輻射時，由輻射激發(fā)的電子被捕獲在色心中，直到它們被在板表面上掃描的激光束激發(fā)。當(dāng)板被激光掃描時，被捕獲的受激發(fā)的電子發(fā)射光，該光由光電倍增管收集。收集的光被轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像。與照相板和照相膠片相比，PSP板可重復(fù)使用。
另一種輻射探測器是輻射圖像增強器。輻射圖像增強器的部件通常密封在真空中。與照相板、照相膠片和PSP板相反，輻射圖像增強器可以產(chǎn)生實時圖像，即不需要曝光后處理來產(chǎn)生圖像。輻射首先命中輸入磷光體(例如，碘化銫)并被轉(zhuǎn)換為可見光?？梢姽馊缓竺泄怆婈帢O(例如含有銫和銻化合物的薄金屬層)并導(dǎo)致電子的發(fā)射。發(fā)射電子的數(shù)量與入射輻射的強度成比例。發(fā)射電子通過電子光學(xué)裝置被投影到輸出磷光體上，并導(dǎo)致輸出磷光體產(chǎn)生可見光圖像。
閃爍器在某種程度上類似于輻射圖像增強器，其中閃爍器(例如，碘化鈉)吸收輻射并發(fā)出可見光，所述可見光通過合適的可見光圖像傳感器進行檢測。在閃爍器中，可見光在所有方向上擴散和散射從而減小了空間分辨率。減小閃爍器厚度有助于改善空間分辨率但也減少了輻射的吸收。因此，閃爍器必須在吸收效率和分辨率之間進行折衷。
半導(dǎo)體輻射探測器主要通過將輻射直接轉(zhuǎn)換為電信號來克服這一問題。半導(dǎo)體輻射探測器可以包含用于吸收感興趣的輻射波長的半導(dǎo)體層。當(dāng)輻射粒子在半導(dǎo)體層中被吸收時，多個電荷載流子(例如，電子和空穴)產(chǎn)生并在電場下被掃至半導(dǎo)體層上的電觸點。
【發(fā)明內(nèi)容】
本文公開了一種探測器，包括：包含第一子像素和第二子像素的一個像素，其中所述第一子像素被配置為在暴光于輻射時產(chǎn)生第一電信號，并且其中所述第二子像素被配置為在暴光于所述輻射時產(chǎn)生第二電信號；其中所述探測器被配置為在第一時間周期內(nèi)，基于所述第一電信號，確定入射在所述第一子像素上的輻射粒子的數(shù)量；其中所述探測器被配置為通過在第二時間周期內(nèi)積分所述第二電信號來確定所述輻射的強度。
根據(jù)實施例，所述第一時間周期和所述第二時間周期是相同的。
根據(jù)實施例，所述第一子像素鄰接所述第二子像素。
根據(jù)實施例，所述探測器被配置為基于所述第一電信號,測量入射在所述第一子像素上的所述輻射粒子的能量。
根據(jù)實施例，所述像素還包括第三子像素，所述第三子像素被配置為在暴光于所述輻射時產(chǎn)生第三電信號；并且其中所述探測器被配置為基于所述第三電信號，確定在第一時間周期內(nèi)入射在所述第三子像素上的所述輻射的粒子數(shù)。
根據(jù)實施例，所述探測器被配置為基于第三電信號，測量入射到所述第三子像素上的所述輻射粒子的能量。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳幀觀德芯科技有限公司，未經(jīng)深圳幀觀德芯科技有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880096883.7/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
