[發明專利]滑動軸承緊余量高度測量方法和裝置

有效

• 申請號: 201880096808.0
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN112639394B
• 公開（公告）日: 2023-05-12
• 發明（設計）人: J·萊帕坎加斯;P·哈拉-霍;J·伊斯托萊蒂;J-P·韋薩拉
• 申請（專利權）人: 瓦錫蘭芬蘭有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;F16C9/00;F16C17/02;G01M13/04;F16C43/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 游雷;王小東

用于確定滑動軸瓦的緊余量高度的方法和裝置，該裝置包括：用于向滑動軸瓦形成照明光的光源；被配置用于拍攝圖像的傳感器設備；包括計算機程序代碼的至少一個存儲器；該至少一個存儲器和計算機程序代碼被配置為與至少一個處理器一起使所述裝置：拍攝滑動軸瓦在第一模式下的第一圖像，其中在滑動軸瓦的周向方向上未形成外部壓縮應力；基于所拍攝的第一圖像生成滑動軸承數據；維護至少包括用于容納滑動軸瓦的孔的直徑信息的殼參考數據；并且基于滑動軸承數據和殼參考數據確定滑動軸瓦的緊余量高度。

技術領域

本申請總體上涉及滑動軸承(plain?bearing)緊余量高度(crush?height)測量方法、設備和裝置。

背景技術

本節說明了有用的背景信息，并非承認本文所述的任何技術表示現有技術。

本發明涉及一種半滑動軸承，該半滑動軸承以半瓦(half?shell)形式生產，以便在兩個半滑動軸承單元組合時形成圓柱形形狀。

常規上，當以半瓦形式生產的半滑動軸承(該半瓦形式使得兩個單元的組合將形成圓柱形形狀)被安裝在殼(housing)中時，它們的端部在分型線處可能不匹配，或者如果半滑動軸承的緊余量高度過大，滑動軸承可能在端部的分型線附近變形，并在徑向方向向內膨脹，從而導致與軸的局部過盈(local?interference)。可以提供緊余量消除裝置(crush?relief)，以糾正在半滑動軸承分型線處出現的局部變形或錯位，并且其深度、長度等是根據殼的剛度、精度和工作狀態來確定的。

周長(peripheral?length)是半瓦式軸承最關鍵的特征之一。半瓦式軸承是基于軸承殼與軸瓦之間的徑向壓力來組裝的。自由狀態下的軸承周長大于軸承殼的圓周長度，而且通過將兩個半瓦壓到軸承殼上產生徑向壓力，使得周長差就被“壓走”了。

軸承周長在組裝狀態與自由狀態之間的差異被稱為軸承測量高出度(nip)或緊余量高度。始終在殼上的試驗壓力下定義測量高出度。

傳統情況下，軸承周長是通過測量高出度檢查機或工具來測量的。這需要使用尺寸難以攜帶的專用設備或工具，并且需要軸承專用的檢查塊(checking?block)。這種方法在現場情況下并不總是可行的。

因此，需要一種解決方案來實現滑動軸承緊余量高度的準確、易用和可靠測量。

發明內容

權利要求書中闡述了本發明示例的各個方面。

根據本發明的第一示例方面，提供了一種確定滑動軸瓦的緊余量高度的裝置，所述裝置包括：

光源，所述光源用于向所述滑動軸瓦形成照明光；

傳感器設備，所述傳感器設備被配置為拍攝圖像；

至少一個存儲器，所述至少一個存儲器包括計算機程序代碼；所述至少一個存儲器和所述計算機程序代碼被配置成與所述至少一個處理器一起使所述裝置：

拍攝所述滑動軸瓦在第一模式下的第一圖像，其中，在所述滑動軸瓦的周向方向上未形成外部壓縮應力；

基于所拍攝的第一圖像生成滑動軸承數據；

維護殼參考數據，所述殼參考數據至少包括用于容納所述滑動軸瓦的孔的直徑信息；以及

基于所述滑動軸承數據和所述殼參考數據確定所述滑動軸瓦的緊余量高度。

在一個實施方式中，所述滑動軸承數據包括以下項中的至少一項：所述滑動軸瓦的周向長度；所述滑動軸瓦的自由彈張量；滑動軸瓦形式；以及所述滑動軸瓦的厚度。

在一個實施方式中，所述至少一個存儲器和所述計算機程序代碼被配置成與所述至少一個處理器一起使所述裝置：

基于所拍攝的第一圖像確定所述滑動軸瓦的外側周向長度；以及