[發明專利]檢查設定裝置及檢查設定方法在審
| 申請號: | 201880095679.3 | 申請日: | 2018-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN112437879A | 公開(公告)日: | 2021-03-02 |
| 發明(設計)人: | 小林貴纮;天野雅史;橫井勇太;鬼頭秀一郎 | 申請(專利權)人: | 株式會社富士 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956;H05K13/08 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 楊青;安翔 |
| 地址: | 日本愛知*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢查 設定 裝置 方法 | ||
1.一種檢查設定裝置,具備:
判定部,在圖像處理的結果包含于被判定為正常的第一容許范圍時,判定所述圖像處理的結果是否包含于第二容許范圍,所述圖像處理在對基板作業機進行的基板產品的生產處理中執行來識別所述基板產品中包含的構成部位的狀態,所述第二容許范圍是比所述第一容許范圍窄的容許范圍,且考慮所述構成部位及所述圖像處理的偏差來設定;及
設定部,在由所述判定部判定為所述圖像處理的結果不包含于所述第二容許范圍時,將進行了所述判定的所述構成部位的檢查基準設定得比進行所述判定之前嚴格。
2.根據權利要求1所述的檢查設定裝置,其中,
所述設定部設定檢查對象設定、檢查項目設定及檢查方法設定中的至少一個,所述檢查對象設定在所述構成部位不是檢查對象時將該構成部位設為檢查對象,所述檢查項目設定追加與所述構成部位相關的檢查項目,所述檢查方法設定將與所述構成部位相關的檢查方法變更為能夠進行精度比進行所述判定之前高的檢查的檢查方法。
3.根據權利要求2所述的檢查設定裝置,其中,
所述檢查項目是有無檢查、位置偏差檢查及方向檢查中的至少一個,所述有無檢查對有無所述構成部位進行檢查,所述位置偏差檢查對所述構成部位相對于所述構成部位在所述基板產品中應處的預定位置的位置偏差進行檢查,所述方向檢查對所述基板產品中的所述構成部位的方向進行檢查。
4.根據權利要求1~3中任一項所述的檢查設定裝置,其中,
所述第二容許范圍考慮由操作所述對基板作業機的操作者指定的指定值及在本次的所述圖像處理之前多次執行的所述圖像處理的結果的統計值中的至少一方而設定。
5.根據權利要求1~4中任一項所述的檢查設定裝置,其中,
在所述圖像處理的結果中包含所述圖像處理的所需時間,
所述判定部判定所述圖像處理的所需時間是否包含于所述第二容許范圍。
6.根據權利要求1~5中任一項所述的檢查設定裝置,其中,
所述構成部位包括基板和安裝于所述基板的多個元件,
所述圖像處理是識別表示所述多個元件中的各元件在所述基板上的位置的坐標值及角度中的至少一方的處理。
7.根據權利要求1~6中任一項所述的檢查設定裝置,其中,
所述構成部位包括基板和作為所述基板的定位基準的多個標記部,
所述圖像處理是識別所述基板上的所述多個標記部的位置關系的處理。
8.根據權利要求1~7中任一項所述的檢查設定裝置,其中,
所述構成部位包括基板、作為所述基板的定位基準的多個標記部及安裝于所述基板的多個元件,
所述判定部在關于所述多個標記部判定為所述圖像處理的結果不包含于所述第二容許范圍時,關于所述多個元件判定為所述圖像處理的結果不包含于所述第二容許范圍。
9.根據權利要求8所述的檢查設定裝置,其中,
所述基板是多個單位基板以能夠分割的方式結合的分割基板,
所述多個標記部設于所述多個單位基板中的各單位基板,
所述判定部在關于所述多個單位基板中的一部分單位基板的所述多個標記部判定為所述圖像處理的結果不包含于所述第二容許范圍時,關于安裝于所述一部分單位基板的所述多個元件判定為所述圖像處理的結果不包含于所述第二容許范圍。
10.根據從屬于權利要求3的權利要求8或權利要求9所述的檢查設定裝置,其中,
所述設定部至少設定所述檢查項目設定,所述檢查項目設定追加至少包含所述位置偏差檢查的所述檢查項目,所述位置偏差檢查對所述多個元件相對于所述多個元件在所述基板產品中應處的預定位置的位置偏差進行檢查。
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