[發明專利]相位校準方法、相關裝置及設備

有效

• 申請號: 201880095116.4
• 申請日: 2018-06-26
• 公開（公告）號: CN112368957B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 李治;諸小勝
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04B17/21
• 分類號: H04B17/21;H04B7/04
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;李稷芳

1.一種相位校準方法，其特征在于，其中，包括：

啟用陣列天線的n個通道，n為大于或等于2的整數；

確定所述n個通道的基準相位差，所述基準相位差為所述n個通道中的基準通道的調試信號與參考信號之間的相位差；

確定所述n個通道中除所述基準通道之外的其他n-1個通道的各自的目標相位差，所述目標相位差為所述n-1個通道各自的調試信號與所述參考信號之間的相位差；

其中，第k個通道的相位差是將所述第k個通道中的移相器在至少三個不同相位狀態下得到的，所述第k個通道是所述n個通道中的任意一個通道；

基于所述n-1個通道各自的目標相位差與所述基準相位差之間的差值，調整所述n-1個通道中每個通道中的移相器。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第k個通道的相位差是根據所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差、所述第k個通道中的調試信號的幅值以及中間合成信號的幅值確定的，其中，所述中間合成信號為除所述第k個通道之外的其余n-1個通道中的調試信號合成的合成信號，所述參考信號是所述n個通道中的調試信號合成的合成信號，k為小于或者等于n的正整數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，

所述第k個通道的相位差是根據所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差、所述第k個通道中的調試信號的幅值以及中間合成信號的幅值，結合矢量運算法則確定的。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，確定所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差、所述第k個通道中的調試信號的幅值以及中間合成信號的幅值，包括：

確定所述第k個通道的移相器在至少三個不同相位狀態時，所述n個通道的調試信號合成的至少三個合成信號的幅值，其中，所述不同相位狀態為所述移相器在不同附加相移時的狀態，所述至少三個合成信號的幅值與所述至少三個不同相位狀態一一對應；

根據所述至少三個合成信號的幅值，結合余弦定理確定所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差、所述第k個通道中的調試信號的幅值以及中間合成信號的幅值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述確定所述第k個通道的移相器在至少三個不同相位狀態時，所述n個通道的調試信號合成的至少三個合成信號的幅值，包括：

獲取第一合成信號的第一功率，根據所述第一功率確定所述第一合成信號的幅值，所述第一合成信號為所述第k個通道的移相器在第一相位狀態時所述n個通道的調試信號合成的合成信號；

獲取第二合成信號的第二功率，根據所述第二功率確定所述第二合成信號的幅值，所述第二合成信號為所述第k個通道的移相器在第二相位狀態時所述n個通道的調試信號合成的合成信號；

獲取第三合成信號的第三功率，根據所述第三功率確定所述第三合成信號的幅值，所述第三合成信號為所述第k個通道的移相器在第三相位狀態時所述n個通道的調試信號合成的合成信號。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，根據至少三個合成信號的幅值，結合余弦定理確定所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差、所述第k個通道中的調試信號的幅值以及中間合成信號的幅值，包括：

根據如下公式確定所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差、所述第k個通道中的調試信號的幅值以及中間合成信號的幅值：

其中，C_k為所述中間合成信號的幅值，A_k為所述第k個通道中的調試信號的幅值，θ_k為所述第k個通道中的調試信號與中間合成信號之間的相位差，γ₁為所述移相器在第一相位狀態時的附加相移，γ₂為所述移相器在第二相位狀態時的附加相移，γ₃為所述移相器在第三相位狀態時的附加相移，K₁為所述第一合成信號的幅值，K₂為所述第二合成信號的幅值，K₃為所述第三合成信號的幅值。