[發明專利]光測距裝置以及加工裝置

有效

• 申請號: 201880094509.3
• 申請日: 2018-06-19
• 公開（公告）號: CN112262292B
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 后藤廣樹;松本佳宏;斧原圣史;鈴木巨生;柳澤隆行
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: G01C3/06
• 分類號: G01C3/06;G01B11/02;G01B9/02015;B24B49/12;B23Q17/24
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 孫蕾

1.一種光測距裝置，具備：

頻率掃描光輸出部，以與時鐘信號同步的方式重復輸出頻率隨時間的經過而發生變化的頻率掃描光；

光發送部，將從所述頻率掃描光輸出部輸出的頻率掃描光作為參照光而輸出，并且朝向測定對象物照射所述頻率掃描光；

光干涉部，將被所述測定對象物反射的頻率掃描光作為反射光而接收，使所述反射光與所述參照光發生干涉，輸出所述反射光與所述參照光的干涉光；

光檢測器，具有多個受光元件，該多個受光元件接收從所述光干涉部輸出的干涉光，輸出所述干涉光的檢測信號；

控制信號生成部，以與所述時鐘信號同步的方式生成并輸出表示選擇對象的檢測信號的控制信號；

開關，依照由所述控制信號生成部輸出的控制信號，從自所述多個受光元件輸出的檢測信號之中選擇任意一個檢測信號；以及

距離計算部，根據由所述開關選擇出的檢測信號，計算從光測距裝置直至所述測定對象物中的任意的部位為止的距離。

2.根據權利要求1所述的光測距裝置，其特征在于，

所述光干涉部將被所述測定對象物中的3個以上的部位分別反射的頻率掃描光作為反射光而接收，使接收到的各個反射光與所述參照光發生干涉，輸出各個反射光與所述參照光的干涉光，

所述多個受光元件配置于與所述測定對象物中的3個以上的部位分別對應的位置，接收從所述光干涉部輸出的各個干涉光，將各個干涉光的檢測信號輸出到所述開關。

3.根據權利要求1或者2所述的光測距裝置，其特征在于，具備：

模擬數字變換器，該模擬數字變換器將由所述開關選擇出的檢測信號從模擬信號變換為數字信號，將所述數字信號輸出到所述距離計算部。

4.根據權利要求1或者2所述的光測距裝置，其特征在于，

所述開關通過組合多個開關元件而構成。

5.一種光測距裝置，其特征在于，具備：

頻率掃描光輸出部，具有：頻率變化信號輸出部，以與時鐘信號同步的方式輸出頻率隨時間的經過而發生變化的頻率變化信號；以及激光光源，接受來自所述頻率變化信號輸出部的頻率變化信號，輸出與該頻率變化信號的頻率的變化一致的頻率掃描光，所述頻率掃描光輸出部以與時鐘信號同步的方式重復輸出頻率隨時間的經過而發生變化的所述頻率掃描光；

光發送部，將從所述頻率掃描光輸出部輸出的頻率掃描光作為參照光而輸出，并且朝向測定對象物照射所述頻率掃描光；

光干涉部，將被所述測定對象物反射的頻率掃描光作為反射光而接收，使所述反射光與所述參照光發生干涉，輸出所述反射光與所述參照光的干涉光；

光檢測器，具有多個受光元件，該多個受光元件接收從所述光干涉部輸出的干涉光，輸出所述干涉光的檢測信號；

開關，從自所述多個受光元件輸出的檢測信號之中選擇任意一個檢測信號；

距離計算部，根據由所述開關選擇出的檢測信號，計算從光測距裝置直至所述測定對象物中的任意的部位為止的距離；以及

控制信號生成部，以與所述時鐘信號同步的方式生成并輸出表示選擇對象的檢測信號的控制信號，

所述開關依照由所述控制信號生成部輸出的控制信號，選擇一個檢測信號。

6.根據權利要求5所述的光測距裝置，其特征在于，

所述光干涉部將被所述測定對象物中的3個以上的部位分別反射的頻率掃描光作為反射光而接收，使接收到的各個反射光與所述參照光發生干涉，輸出各個反射光與所述參照光的干涉光，

所述多個受光元件配置于與所述測定對象物中的3個以上的部位分別對應的位置，接收從所述光干涉部輸出的各個干涉光，將各個干涉光的檢測信號輸出到所述開關。

7.根據權利要求5或者6所述的光測距裝置，其特征在于，具備：

模擬數字變換器，該模擬數字變換器將由所述開關選擇出的檢測信號從模擬信號變換為數字信號，將所述數字信號輸出到所述距離計算部。

8.根據權利要求5或者6所述的光測距裝置，其特征在于，

所述開關通過組合多個開關元件而構成。