[發(fā)明專利]電池劣化檢測裝置以及電池溫度推測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201880092809.8 | 申請日: | 2018-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN112041695B | 公開(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 小笠原圭佑;和田敏裕 | 申請(專利權(quán))人: | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號: | G01R31/392 | 分類號: | G01R31/392;G01R31/389;G01R31/367;G01R31/385;G01R31/374;G01K13/00;H01M10/42 |
| 代理公司: | 中國貿(mào)促會專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人: | 金春實 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電池 檢測 裝置 以及 溫度 推測 | ||
1.一種電池劣化檢測裝置,其特征在于,具備:
阻抗測量部,測量多個頻率下的電池的阻抗;以及
劣化檢測部,根據(jù)由所述阻抗測量部測量的所述多個頻率下的阻抗的實數(shù)分量,檢測所述電池的劣化,
所述多個頻率中的至少1個頻率下的阻抗具有正的虛數(shù)分量,
所述多個頻率包含第1頻率和比所述第1頻率高的第2頻率,
在所述第1頻率下測量的阻抗的實數(shù)分量與所述電池的集電部中的第1導(dǎo)電路徑的電阻分量對應(yīng),在所述第2頻率下測量的阻抗的實數(shù)分量與所述集電部中的第2導(dǎo)電路徑的電阻分量對應(yīng),
所述第2導(dǎo)電路徑通過所述集電部中的表皮效應(yīng)構(gòu)成于所述第1導(dǎo)電路徑的一部分,
所述多個頻率下的阻抗的實數(shù)分量表示虛數(shù)分量成為正的阻抗的范圍中的所述電池的阻抗的實數(shù)分量的變化的傾向。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
所述多個頻率下的阻抗分別具有0以上的虛數(shù)分量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
所述劣化檢測部根據(jù)所述多個頻率下的阻抗的實數(shù)分量的比,檢測所述電池的劣化。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
所述劣化檢測部根據(jù)所述多個頻率下的阻抗的實數(shù)分量的差分,檢測所述電池的劣化。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
所述第1頻率是1kHz以上且小于10kHz。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
所述第2頻率是10kHz以上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,還具備:
溫度校正部,將由所述阻抗測量部測量的阻抗的實數(shù)分量校正為與預(yù)先決定的基準(zhǔn)溫度下的電阻分量對應(yīng)的值。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
在所述多個頻率中的除了所述至少1個頻率之外的其他頻率中,至少1個所述其他頻率下的阻抗具有負(fù)的虛數(shù)分量,
所述劣化檢測部根據(jù)由所述阻抗測量部測量的具有所述負(fù)的虛數(shù)分量的阻抗的實數(shù)分量,檢測所述電池的劣化。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的電池劣化檢測裝置,其特征在于,
所述阻抗測量部測量包括相互連接的多個電池的電池模塊的所述多個頻率下的阻抗,
所述劣化檢測部檢測所述電池模塊的劣化。
10.一種電池溫度推測裝置,其特征在于,具備:
阻抗測量部,測量多個頻率下的電池的阻抗;以及
溫度推測部,根據(jù)由所述阻抗測量部測量的所述多個頻率下的阻抗的實數(shù)分量,推測所述電池的內(nèi)部溫度,
所述多個頻率中的至少1個頻率下的阻抗具有正的虛數(shù)分量,
所述多個頻率包含第1頻率和比所述第1頻率高的第2頻率,
在所述第1頻率下測量的阻抗的實數(shù)分量與所述電池的集電部中的第1導(dǎo)電路徑的電阻分量對應(yīng),在所述第2頻率下測量的阻抗的實數(shù)分量與所述集電部中的第2導(dǎo)電路徑的電阻分量對應(yīng),
所述第2導(dǎo)電路徑通過所述集電部中的表皮效應(yīng)構(gòu)成于所述第1導(dǎo)電路徑的一部分。
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